PIP8.1型顆粒圖像處理儀的詳細(xì)信息
適用于磨料、涂料、非金屬礦、化學(xué)試劑、填料等各種粉末顆粒的粒度測量、形貌觀察和分析，能給出不同等效原理（如等面積圓、等效短徑等）的粒度分布，能直接觀察顆粒分散狀況、粉體樣品的大致粒度范圍、是否存在低含量的大顆粒或小顆粒情況等等。工作原理
將現(xiàn)代電子技術(shù)與顯微鏡方法相結(jié)合，用攝像機拍攝顯微鏡放大的顆粒圖像，圖像信號進(jìn)入計算機內(nèi)存后，計算機自動的對顆粒的形貌特征和粒度進(jìn)行分析和計算，后輸出測試。技術(shù)指標(biāo)
1.測試范圍：0.5-3000μm
2.重復(fù)性誤差：<3%輸出項目
粒度分布表、粒度分布曲線、平均粒徑、中位徑、邊界粒徑、比表面積、長短徑比統(tǒng)計、PPC等產(chǎn)品特點
1.采用日本進(jìn)口的奧林巴斯生物顯微鏡，配以130萬像素CMOS圖像傳感器，圖像分辨率極大提高。
2.采用USB2.0數(shù)據(jù)接口，與微機的兼容性更強。
3.可保存單顆顆粒圖像。
軟件功能
1.3種統(tǒng)計方式：按體積統(tǒng)計、按顆粒數(shù)統(tǒng)計、按面積統(tǒng)計
2.2種等效方式：等效園、等效短徑
3.2種累計分布方向：從小到大、從大到小
4.可設(shè)置格式
5.具有調(diào)焦指示窗口
適用于磨料、涂料、非金屬礦、化學(xué)試劑、填料等各種粉末顆粒的粒度測量、形貌觀察和分析，能給出不同等效原理（如等面積圓、等效短徑等）的粒度分布，能直接觀察顆粒分散狀況、粉體樣品的大致粒度范圍、是否存在低含量的大顆粒或小顆粒情況等等。工作原理
將現(xiàn)代電子技術(shù)與顯微鏡方法相結(jié)合，用攝像機拍攝顯微鏡放大的顆粒圖像，圖像信號進(jìn)入計算機內(nèi)存后，計算機自動的對顆粒的形貌特征和粒度進(jìn)行分析和計算，后輸出測試。技術(shù)指標(biāo)
1.測試范圍：0.5-3000μm
2.重復(fù)性誤差：<3%輸出項目
粒度分布表、粒度分布曲線、平均粒徑、中位徑、邊界粒徑、比表面積、長短徑比統(tǒng)計、PPC等產(chǎn)品特點
1.采用日本進(jìn)口的奧林巴斯生物顯微鏡，配以130萬像素CMOS圖像傳感器，圖像分辨率極大提高。
2.采用USB2.0數(shù)據(jù)接口，與微機的兼容性更強。
3.可保存單顆顆粒圖像。
軟件功能
1.3種統(tǒng)計方式：按體積統(tǒng)計、按顆粒數(shù)統(tǒng)計、按面積統(tǒng)計
2.2種等效方式：等效園、等效短徑
3.2種累計分布方向：從小到大、從大到小
4.可設(shè)置格式
5.具有調(diào)焦指示窗口
