- 品牌/商標：上海精科分析儀器廠
- 企業(yè)類型：貿易商
- 新舊程度：全新
- 原產地：上海
UV762雙光束紫外可見分光光度計全新的光學系統(tǒng)設計，使儀器的主機具有優(yōu)良的光學性能和測光性能，雜散光和噪聲低，測光度和穩(wěn)定可靠性高
技術參數(shù)：
● 波長范圍：200nm～1100nm
● 波長允許誤差：±0.5nm
● 波長重復性：≤0.2nm
● 透射比允許誤差：±0.5%（T）
● 透射比重復性：0.2%（T）
● 光譜帶寬：2nm
● 基線平直度：±0.004A(200nm～1000nm)
● 漂移：≤0.004A/h(500nm處，預熱2小時)
● 雜散光：≤0.15%(T)（在220nm處, 以NaI測定）（在360nm處，以NaNO2測定)
其它：
● 電源：AC220V±22V 50Hz±1Hz
UV762雙光束紫外可見分光光度計如果您對本產品價格、圖片、參數(shù)、售后等有任何疑問歡迎致電咨詢！
技術參數(shù)：
● 波長范圍：200nm～1100nm
● 波長允許誤差：±0.5nm
● 波長重復性：≤0.2nm
● 透射比允許誤差：±0.5%（T）
● 透射比重復性：0.2%（T）
● 光譜帶寬：2nm
● 基線平直度：±0.004A(200nm～1000nm)
● 漂移：≤0.004A/h(500nm處，預熱2小時)
● 雜散光：≤0.15%(T)（在220nm處, 以NaI測定）（在360nm處，以NaNO2測定)
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