CST-50沖擊試樣缺口投影儀是于檢測(cè)沖擊試樣V、U型缺口的精密檢測(cè)儀器。儀器光學(xué)系統(tǒng)質(zhì)量優(yōu)良，物鏡成像清晰，放大倍率準(zhǔn)確，是材料沖擊試驗(yàn)不可少的光學(xué)檢測(cè)儀器。
隨著國內(nèi)工業(yè)技術(shù)的發(fā)展，越來越多的行業(yè)已經(jīng)開始執(zhí)行夏比V型缺口沖擊試驗(yàn)方法，日前國內(nèi)諸如鍋爐壓力容器、冶金和機(jī)械等行業(yè)已普遍采用夏比V型缺口沖擊試驗(yàn)取代使用了幾十年的梅氏U型缺口沖擊試驗(yàn)。
對(duì)于夏比V型缺口沖擊試驗(yàn)，由于試樣V型缺口要求嚴(yán)格（試樣缺口深2mm、呈45°角且試樣缺口要求R0.25±0.025mm），故在整個(gè)試驗(yàn)過程中，試樣的V型缺口加工是否合格成了關(guān)鍵問題，如果試樣缺口的加工質(zhì)量不合格，那么其試驗(yàn)的結(jié)果是不可信的，是R0.25mm缺口的微小變化（其公差帶只有0.025mm），都會(huì)引起試驗(yàn)結(jié)果的陡跳，尤其是在試驗(yàn)的臨界值時(shí)會(huì)引起產(chǎn)品或報(bào)廢或合格兩種截然相反的結(jié)果。為加工出的夏比V型缺口合格，其缺口的加工質(zhì)量檢驗(yàn)是一個(gè)重要的質(zhì)量控制手段。
技術(shù)參數(shù)
1、放大倍數(shù)：50×；
2、投影屏直徑：180mm；
3、工作臺(tái)尺寸：方工作臺(tái)：110×125mm圓工作臺(tái)：90mm 工作臺(tái)玻璃直徑：70 mm
4、 工作臺(tái)行程：縱向：10 mm；橫向：10 mm；升降：12 mm（無刻度）
5、 工作臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)范圍：0—360°
6、 儀器放大倍率：50×物鏡放大倍率：2.5×投影物鏡放大倍率：20×
7、 光源（鹵鎢燈）：12V/100W
8、 電源：220V/50Hz
9、 外形尺寸：515×224×603mm（長×寬×高）
10、 重量：約18kg
準(zhǔn)樣板圖類型 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) 備注
2mm V U型缺口 GB/T 229-2007
EN 10045.1-1990
ASTM E23-2002a 標(biāo)準(zhǔn)樣板圖的缺口尺寸與偏差應(yīng)滿足標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定
CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是我公司根據(jù)日前國內(nèi)廣大用戶的實(shí)際需求和GB/T229-2007《金屬材料夏比缺口沖擊試驗(yàn)方法》中對(duì)沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計(jì)、開發(fā)的一種于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器。
目前用光學(xué)投影放大檢查是切實(shí)可行并能檢查質(zhì)量的方法。CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是我公司根據(jù)日前國內(nèi)廣大用戶的實(shí)際需求和GB/T229-2007《金屬材料夏比缺口沖擊試驗(yàn)方法》中對(duì)沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計(jì)、開發(fā)的一種于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器。
隨著國內(nèi)工業(yè)技術(shù)的發(fā)展，越來越多的行業(yè)已經(jīng)開始執(zhí)行夏比V型缺口沖擊試驗(yàn)方法，日前國內(nèi)諸如鍋爐壓力容器、冶金和機(jī)械等行業(yè)已普遍采用夏比V型缺口沖擊試驗(yàn)取代使用了幾十年的梅氏U型缺口沖擊試驗(yàn)。
對(duì)于夏比V型缺口沖擊試驗(yàn)，由于試樣V型缺口要求嚴(yán)格（試樣缺口深2mm、呈45°角且試樣缺口要求R0.25±0.025mm），故在整個(gè)試驗(yàn)過程中，試樣的V型缺口加工是否合格成了關(guān)鍵問題，如果試樣缺口的加工質(zhì)量不合格，那么其試驗(yàn)的結(jié)果是不可信的，是R0.25mm缺口的微小變化（其公差帶只有0.025mm），都會(huì)引起試驗(yàn)結(jié)果的陡跳，尤其是在試驗(yàn)的臨界值時(shí)會(huì)引起產(chǎn)品或報(bào)廢或合格兩種截然相反的結(jié)果。為加工出的夏比V型缺口合格，其缺口的加工質(zhì)量檢驗(yàn)是一個(gè)重要的質(zhì)量控制手段。
技術(shù)參數(shù)
1、放大倍數(shù)：50×；
2、投影屏直徑：180mm；
3、工作臺(tái)尺寸：方工作臺(tái)：110×125mm圓工作臺(tái)：90mm 工作臺(tái)玻璃直徑：70 mm
4、 工作臺(tái)行程：縱向：10 mm；橫向：10 mm；升降：12 mm（無刻度）
5、 工作臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)范圍：0—360°
6、 儀器放大倍率：50×物鏡放大倍率：2.5×投影物鏡放大倍率：20×
7、 光源（鹵鎢燈）：12V/100W
8、 電源：220V/50Hz
9、 外形尺寸：515×224×603mm（長×寬×高）
10、 重量：約18kg
準(zhǔn)樣板圖類型 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) 備注
2mm V U型缺口 GB/T 229-2007
EN 10045.1-1990
ASTM E23-2002a 標(biāo)準(zhǔn)樣板圖的缺口尺寸與偏差應(yīng)滿足標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定
CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是我公司根據(jù)日前國內(nèi)廣大用戶的實(shí)際需求和GB/T229-2007《金屬材料夏比缺口沖擊試驗(yàn)方法》中對(duì)沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計(jì)、開發(fā)的一種于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器。
目前用光學(xué)投影放大檢查是切實(shí)可行并能檢查質(zhì)量的方法。CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是我公司根據(jù)日前國內(nèi)廣大用戶的實(shí)際需求和GB/T229-2007《金屬材料夏比缺口沖擊試驗(yàn)方法》中對(duì)沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計(jì)、開發(fā)的一種于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器。
