用 途
·在光學冷加工中用于檢驗球面和非球面的質量
·測定光學件或光學系統的像差，如球差、像散等
·測定凹球面的曲率半徑
·檢驗光學材料中的缺陷，如條紋，不均勻性等
·光學系統的檢驗和裝配，用它檢驗各種非球面及大口徑的球面和平面
技 術 指 標
·相對孔徑：D/F=1：2
·小孔直徑：0.03，0.06，0.08，0.2，0.5，1mm
·狹 縫 寬：0.05，0.15mm
·儀器重量：2KG
·粗調升降：70mm
·微調升降：15mm
·移 動 量：縱向橫向各15mm
·讀 書 值：0.01mm
·在光學冷加工中用于檢驗球面和非球面的質量
·測定光學件或光學系統的像差，如球差、像散等
·測定凹球面的曲率半徑
·檢驗光學材料中的缺陷，如條紋，不均勻性等
·光學系統的檢驗和裝配，用它檢驗各種非球面及大口徑的球面和平面
技 術 指 標
·相對孔徑：D/F=1：2
·小孔直徑：0.03，0.06，0.08，0.2，0.5，1mm
·狹 縫 寬：0.05，0.15mm
·儀器重量：2KG
·粗調升降：70mm
·微調升降：15mm
·移 動 量：縱向橫向各15mm
·讀 書 值：0.01mm
