YB-6500高分立器件測(cè)試系統(tǒng)能對(duì)市場上現(xiàn)有的分立器件都可測(cè)試。
　　
　　可測(cè)試器件種類
　　YB6500系統(tǒng)測(cè)試功能更加強(qiáng)大，可測(cè)試類二十七分類大、中、小功率的半導(dǎo)體分立器件：
　　1.二管：Diode
　　2.穩(wěn)壓（齊納）二管：Zener
　　3.晶體管：Transistor（NPN型／PNP型）
　　4.可控硅整流器（普通晶閘管）：SCR
　　5.雙向可控硅（雙向晶閘管）：TRIAC
　　6.MOS場效應(yīng)管：Power　MOSFET（N-溝／P-溝）
　　7.結(jié)型場效應(yīng)管：J-FET（N-溝／P-溝，耗盡型／增強(qiáng)型）
　　8.三端穩(wěn)壓器：REGULATOR（正電壓／負(fù)電壓，固定／可變）
　　9.緣柵雙大功率晶體管：IGBT（NPN型／PNP型）
　　10.光電耦合器：OPTO-COUPLER（NPN型／PNP型）
　　11.光電邏輯器件：OPTO-LOGIC
　　12.光電開關(guān)管：OPTO-SWITCH
　　13.達(dá)林頓陣列
　　14.固態(tài)過壓保護(hù)器：SSOVP
　　15.硅觸發(fā)開關(guān)：STS
　　16.繼電器：RELAY（A、B、C型）
　　17.金屬氧化物壓變電阻：MOV
　　18.壓變電阻：VARISTOR
　　19.雙向觸發(fā)二管：DIAC
　　
　　1.上述所列類別包括各大、中、小功率半導(dǎo)體分立器件及其組成的陣列、組合、表貼器件。
　　2.測(cè)試方法合GB/T　15651.2-2003標(biāo)準(zhǔn)、GB/T　15651.3-2003標(biāo)準(zhǔn)、G　128A-1997半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。
　　3.提供上述各類器件測(cè)試所用的不同封裝形式的測(cè)試夾具和測(cè)試適配器。
　　4.可以定做各種陣列、組合封裝、表貼器件的測(cè)試夾具。
　　5.幫助用戶開發(fā)各種器件的測(cè)試程序。