詢價
- 品牌/商標：九州空間
- 企業類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產地：北京
- 雙棱鏡干涉實驗器：光學實驗導軌：1200mm
- 雙棱鏡干涉實驗儀：半導體激光器：650nm
- 雙棱鏡干涉實驗裝置：透鏡(帶框)： f=100mm，f=60mm，通光直徑：38mm。
J-SLGS1040 雙棱鏡干涉實驗儀
光學實驗導軌：1200mm。
半導體激光器：650nm, 4mW。
透鏡(帶框)： f=100mm，f=60mm，通光直徑：38mm。
激光功率指示計：三位半數字表頭，量程：200μW, 2mW, 20mW, 200mW，可調檔。小分辨率0.1u W。
大一維位移架+12檔光探頭：位移范圍100mm，0.02mm，光欄直徑：0.5、1、2、3、4、6mm。光欄寬度：0.2、0.3、0.4、0.8、1.2mm。
一維可調導軌滑塊：調整范圍：10mm。
采用高穩定度和長相干性的半導體激光器作為光源，以帶有小孔和狹縫光欄的功率計作為光強分布的探測器，與傳統的讀數顯微鏡方案相比，本實驗采用的方案更加客觀準確。
光學實驗導軌：1200mm。
半導體激光器：650nm, 4mW。
透鏡(帶框)： f=100mm，f=60mm，通光直徑：38mm。
激光功率指示計：三位半數字表頭，量程：200μW, 2mW, 20mW, 200mW，可調檔。小分辨率0.1u W。
大一維位移架+12檔光探頭：位移范圍100mm，0.02mm，光欄直徑：0.5、1、2、3、4、6mm。光欄寬度：0.2、0.3、0.4、0.8、1.2mm。
一維可調導軌滑塊：調整范圍：10mm。
采用高穩定度和長相干性的半導體激光器作為光源，以帶有小孔和狹縫光欄的功率計作為光強分布的探測器，與傳統的讀數顯微鏡方案相比，本實驗采用的方案更加客觀準確。
