布魯克Bruker（原veeco）性能標桿AFm—Icon

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Dimension Icon-AFM性能和效率的定義

Dimension Icon 原子力顯微鏡(AFM）的性能、功能及附件等方面具有表現，在聚合物、半導體、能源、數據存儲及材料領域的納米研究中將會得到廣泛應用。Dimension Icon是Dimension系列產品中的新款設備,它基于世界上應用廣泛的AFM平臺，了數十年的技術、行業內的應用定制及客戶反饋等于一身。這個系統經過從上到下的設計，在易用性、高分辨率及快速成像等方面有突出表現。

Dimension Icon 比當今市場上任何一款大樣品臺 AFM 具有更低的噪音水平和更高準確度。

多項技術相結合，即使測量難度大的樣品也能得到很高的圖像效果和數據重復性。

每分鐘少于 200pm 的熱漂移速率，直觀的用戶界面，性能卓越的 Dimension AFM 平臺，三者結合為這臺儀器提供了的操作性能，你在短時間內得到測試結果并發表出版。

Dimension 系列原子力顯微鏡不斷演變升級，以迎合飛速發展的科研需求，新型號的 Dimension Icon 可以配備全套的 AFM 附件和操作模式。

技術參數：

X-Y方向掃描范圍：90um *90um典型值，小85um

Z方向掃描范圍：10um典型值，在成像及力曲線模式下；小9.5um

垂直方向噪音基底：<30pmRMS, 在合適的環境及典型的成像帶寬（625Hz）

X-Y定位噪音（閉環）：<0.15nm RMS，典型成像帶寬（625Hz）

X-Y定位噪音（閉環）：<0.10nm RMS，典型成像帶寬（625Hz）

Z傳感器噪音水平（閉環）：<35pm RMS, 典型成像帶寬（625Hz）

整體線性誤差（X-Y-Z）：0.5% 典型值

樣品尺寸/夾具：210mm真空吸盤樣品臺，直徑210mm, 厚度15mm

電動定位樣品臺（X-Y軸）：180mm*180mm可視區域；單向2um重復性；雙向3um重復性。

顯微鏡光學系統：五像素數字照相機

                                180um至1465um可視范圍

                                數字縮放及自動對焦功能

控制器：NanoScope V型控制器

工作臺：整合控制器、結合人體工學設計，提供直接的物理或可視借口

震動隔：整體式氣動減震臺

聲音隔：可隔環境中85 dBC的持續噪音

主要特點：

結合Veeco新的行業的針尖-掃描AFM技術，Icon的溫度補償定位傳感器使Z軸的的噪音水平亞-埃米級，X-Y方向達埃米級。在大樣品臺、90微米掃描范圍系統的儀器當中，這種表現是突出的，大部分的開環、高分辨率AFM系統的噪音水平。

Icon不具有好的分辨率，它還具備許多新的特性，以增加新老AFM用戶操作儀器的便捷性及出圖像速率：

? 設計的掃描管，實現閉環掃描功能同時，具有開環掃描管的噪音水平，在大樣品AFM系統中實現的分辨率

? 設計的XYZ閉環掃描管，在不影響圖像質量下具有高的掃描速度，具有快的數據采集能力

? 新的NanoScope軟件版本，提供直觀的操作流程及默認實驗模塊，將復雜的AFM操作流程轉化為預先設置

? 高分辨率的照相機及X-Y定位，實現更、更的樣品定位

? 開放的針尖及樣品環境，適用于大部分的標準或定制實驗

? 硬件及軟件設置適用Veeco現有的及即將推出的模式及技術，包括現有的的HarmoniX納米材料性能成像模式