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儀器簡介
5070F電化學工作站集成了線掃伏安、脈伏安、階躍、溶出、脈電鍍等電化學控制與測量技術。軟件運行于Windows7、Windows10操作系統，中文界面，具有快捷的菜單和強大的圖形操作功能，融合了自動測峰、塔菲爾擬合、電容擬合、標準加入法、標準曲線法等技術。根據不同應用領域，儀器易學易用，已在幾百個高等院校及企事業單位推廣應用。
RST5070F技術指標
儀器架構： 恒電位儀、恒電流儀,F型
接地模式： 可根據要求設置成實地模式或浮地模式
槽壓： ±15V
電位掃描范圍： ±12.8V
CV小電位增量： 0.0125mV
電位控制精度： <±0.5mV
電位控制噪聲： <0.01mV
電位上升時間： <0.25uS
電位測量零位： 自動校正
電位新及阻抗采集速率： 10MHz
電位測量低通濾波器： 自動或手動設置
電位測量精度： 滿量程的0.1%
掃描速度： 0.000001V/S～20000V/S
輸入阻抗//電容： >1013Ω//<10pF
大恒電流輸出 ： ±500mA
輸入偏置電流： <0.1pA
電流測量分辨率： 電流量程的0.00076%，小0.2fA
電流測量零位： 自動校正
電流測量量程： 1pA～500mA(25檔)
前置放大倍數： 5×10×100
電流測量高靈敏度： 1×10-12A/V
電流測量精度： 滿量程的0.1%
電流測量低通濾波器： 自動或手動設置
方波伏安法頻率： 1Hz~100kHz
CA和CC脈寬度： 0.1mS～1200S
DPV脈寬度： 0.05mS～64S
IR降補償： 自動或手動設置（10Ω~1MΩ）
多階躍循環次數： 1000次
限壓反饋恒流換向時間： <0.1mS
恒流限壓循環周期： 0.1S~100000S
電池全容量充電工步： 、恒流、恒壓、涓流
雙通道高速ADC： 18bit@1Msps
大數據長度： 20，000，000點
通氮攪拌及敲擊控制輸出： 二路開關量信號（+5V/10mA）
擴展輸出： 二路光電隔數字量信號
儲能電化學測量保護模式： 極性、電壓、電流、時間、鏈路
電極智能柔性保護 ： 電壓載、電流載
儀器尺寸： 36×30×14(立方厘米)
儀器重量： 8kg
◆ RST5070F測試方法
線性掃描伏安法LSV 多電流階躍計時電位法
線性掃描溶出伏安法 控制電流E-T曲線
線性掃描循環伏安法LCV 塔菲爾圖Tafel
電流掃描計時電位法 電池恒流充電
階梯伏安法SV 電池恒流放電
階梯溶出伏安法 電池恒流循環充放電
階梯循環伏安法SCV 電池全容量分段充電
方波伏安法SWV 電池全容量分段放電
方波溶出伏安法 半電池恒流陽極極化
方波循環伏安法SWCV 半電池恒流陰極極化
差示脈伏安法DPV 半電池恒流循環極化
差示脈溶出伏安法 恒流限壓快速循環充放電
常規脈伏安法NPV 高阻電位計
差示常規脈伏安法DNPV 零阻電流計
單電位階躍計時電流法CA 環形掃描
單電位階躍計時電量法CC 點蝕電位
多電位階躍計時電流法 差分脈電流檢測
多電位階躍計時電量法 雙差分脈電流檢測
恒電位電解I-T曲線 三脈電流檢測
恒電位電解Q-T曲線 積分脈電流檢測
恒電位溶出I-T曲線 鍍錫量測定
恒電位溶出Q-T曲線 控制電位電解庫侖法
開路電位E-T曲線OCPT 四探電阻率測量
電位溶出E-T曲線 器件電阻電源內阻測量電化學工作站 電化學工作站 電化學工作站 電化學工作站
單電流階躍計時電位法CP 線狀材料電阻率測量
狀探頭方塊電阻測量
