詢價
- 企業類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產地：江蘇省蘇州昆山市中華園西路1888號
- 測試平臺：精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。
- 探測器：Si-Pin探測器
- 工作原理：利用x射線對金屬表面進行激發，檢測熒光強度來換算成金屬表層的厚度的儀器
- 準直器大小：φ0.1mm的小孔準直器
- 溫度要求：15℃至30℃。
- 電源：交流220V±5V 建議配置交流凈化穩壓電源
- 外觀尺寸：576(W)×495(D)×545(H) mm
在現代工業生產中，質量控制是保證產品穩定性和競爭力的關鍵要素。特別是在電子、電器、航空航天等行業，鍍錫層作為一種重要的表面處理方式，對產品的性能和外觀起到關鍵影響。
具有簡單易用、高精度、快速測量等特點，無論是在生產線上還是實驗室中，都能夠快速準確地完成對鍍錫層厚度的測量。
具有極高的精度。利用先進的測量技術，能夠實現對鍍錫層厚度的微小變化進行準確測量，保證產品的質量和穩定性。且其測量精度可以達到亞微米級別，滿足了各種行業對于高精度測量的需求。因此，工廠在進行鍍錫層加工時，可以通過鍍錫層測厚儀對產品的鍍錫層厚度進行控制，保證產品的一致性和穩定性。
具有快速測量的特點。傳統的鍍錫層厚度測量需要通過顯微鏡觀察鍍錫層的形貌，并通過目測或測量儀器進行測量，效率低下且容易出現誤差。而鍍錫層測厚儀采用非接觸式測量原理，僅需將測量頭靠近待測樣品表面，就可以迅速獲取樣品表面的鍍錫層厚度，大大節省了測量時間，并且有效減少了人為誤差的發生。這種高效率的測量方式，不僅可以提高相應產線的工作效率，還可以更好地控制產品的質量。
在操作上也非常簡單易用。測量時，操作人員只需將待測樣品放置于測量臺上，然后調整測量頭和樣品的距離，即可進行測量。還配備了直觀的操作界面和友好的用戶指南，使得操作人員可以快速掌握使用方法，并在實際操作中取得準確測量結果。這種簡單易用的特點，使得鍍錫層測厚儀在廠商和生產企業中得到了廣泛的應用。
綜上所述，鍍錫層測厚儀作為現代工業質量控制的重要工具，具有高精度、快速測量、簡單易用等特點，為產品質量的提升和工業生產的改進提供了有力保障。無論是在電子制造、航空航天、汽車制造或者其他行業，鍍錫層測厚儀都扮演著不可或缺的角色。隨著科技的不斷進步和應用范圍的擴大，相信鍍錫層測厚儀將會展現更加廣闊的應用前景。
