詢價
- 企業類型：貿易商
- 新舊程度：全新
- 原產地：廈門
- 探測器像素：4096
- 超高分辨率：最低至0.01nm
- 響應范圍：180 - 1100 nm
- 探測器制冷溫度：0 ℃
- 最大讀出速率：10 MHz max
產品概述
ATP3034系列是奧譜天成依托深厚的光譜技術積累，推出的高性能光纖光譜儀。該系列產品采用先進的4096像素探測器，配合創新的光學設計和信號處理系統，在180-1100nm的光譜范圍內實現了令人矚目的0.01nm超高分辨率。無論是基礎科學研究還是工業精密檢測，ATP3034系列都能提供可靠、準確的光譜分析解決方案。
核心優勢
可達分辨率：4096像素探測器配合優化光路，分辨率可達可達0.01nm，可清晰分辨極其細微的光譜特征
優異靈敏度：650V/(lx·s)的高靈敏度確保微弱信號的有效捕獲，配合1-65535ms的可調積分時間，滿足不同強度信號的檢測需求
靈活配置：提供標準版和TE深度制冷版可選，制冷版本有效降低暗噪聲，顯著提升信噪比和動態范圍
寬譜段覆蓋：180-1100nm的光譜范圍覆蓋紫外、可見到近紅外區域，適用性廣泛
便捷集成：緊湊的機械結構，配合SMA905光纖接口和自由空間光輸入選項，支持USB2.0和UART數據輸出，5V直流供電，極大簡化系統集成難度光纖光譜儀光纖光譜儀光纖光譜儀
詳細技術規格
探測器類型：4096像素陣列探測器
光譜范圍：180-1100nm
分辨率：0.01nm
靈敏度：650V/(lx·s)
光路結構：交叉C-T型
積分時間范圍：1-65535ms
數據接口：USB2.0（高速）/UART
電源輸入：DC 5V±10%，<2A
光輸入接口：SMA905光纖接口/自由空間光輸入
工作溫度：0℃（制冷版本）
型號選擇指南
ATP3000：2048像素配置，非制冷，適合常規高分辨率應用
ATP3040：4096像素配置，非制冷，滿足超高分辨率需求
ATP3011P：4096像素配置，TE深度制冷，專為極低噪聲應用設計
應用領域
ATP3034系列憑借其卓越性能，在多個領域發揮重要作用：
精密分光測量：微量快速分光光度計、分光光度分析
材料分析：薄膜透過率、材料吸光度、表面反射率測量
光源表征：紫外、可見及近紅外光源的波長檢測與光譜分析
科研儀器：橢偏儀配套測量、輻射分光分析
質量檢測：工業在線光譜監測、產品質量控制
ATP3034系列將實驗室級的光譜分析性能與便捷的系統集成特性完美結合，為科研工作者和工程師提供了可靠的光譜分析工具。其卓越的分辨率表現和穩定的測量性能，使其成為高精度光譜分析領域的理想選擇。
