詢價(jià)
- 企業(yè)類(lèi)型：貿(mào)易商
- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：中國(guó)
- 品牌：常州安柏
- 質(zhì)保：一年
- 原裝：正品
AB2511、AT2511、AT518L 均為安柏（Anbai）直流低電阻測(cè)試儀，核心差異在形態(tài)、精度、功能與適用場(chǎng)景，以下是關(guān)鍵參數(shù)、區(qū)別及選型建議。
直流低電阻測(cè)試儀核心參數(shù)速覽（2025 年官，方數(shù)據(jù)）
| 參數(shù) | AB2511（臺(tái)式） | AT2511（臺(tái)式） | AT518L（手持） |
|---|---|---|---|
| 核心定位 | 臺(tái)式通用低阻測(cè)試 | 臺(tái)式經(jīng)濟(jì)低阻測(cè)試 | 手持高精度便攜低阻測(cè)試 |
| 測(cè)量范圍 | 10μΩ - 200kΩ | 10μΩ - 200kΩ | 10μΩ - 200kΩ |
| 基本準(zhǔn)確度 | 0.1% | 0.2% | 0.1% |
最 。大顯示位數(shù) | 5000 | 5000 | 20000 |
| 測(cè)試電流 | ≤100mA（低電流型） | ≤100mA（低電流型） | ≤1A（高 / 低電流雙模式） |
| 測(cè)試速度 | 慢 3 次 / 秒，快 10 次 / 秒 | 慢 3 次 / 秒，快 10 次 / 秒 | 慢 3 次 / 秒，快 15 次 / 秒 |
| 顯示 | 數(shù)碼管 | 0.8 寸高亮數(shù)碼管 | 3.5 寸液晶（帶溫度補(bǔ)償） |
| 接口 | RS - 232、比較器分選 | RS - 232、比較器分選 | Mini - USB、U 盤(pán)（數(shù)據(jù)存儲(chǔ)） |
| 供電 | AC 198-252V | AC 198-252V | 鋰電池（可充電，續(xù)航久） |
| 尺寸 / 重量 | 220×85×259mm/2kg | 220×85×259mm/2kg | 130.7×210.8×37.9mm/650g |
| 核心特點(diǎn) | 通用型，適配多種低阻測(cè)量 | AT511A 升級(jí)款，性價(jià)比高 | 便攜，溫度補(bǔ)償，適合現(xiàn)場(chǎng) |
直流低電阻測(cè)試儀核心差異與適用場(chǎng)景
精度與性能
AB2511 精度 0.1%，高于 AT2511 的 0.2%，適合對(duì)精度要求較高的常規(guī)臺(tái)式測(cè)試場(chǎng)景。
AT518L 精度達(dá) 0.1%，且顯示位數(shù)更多，讀數(shù)更精細(xì)，支持溫度補(bǔ)償，適配現(xiàn)場(chǎng)溫度波動(dòng)環(huán)境。
形態(tài)與供電
AB2511、AT2511 為臺(tái)式，需固定電源，適合實(shí)驗(yàn)室、產(chǎn)線批量檢測(cè)。
AT518L 手持便攜，鋰電池供電，適合戶外、設(shè)備現(xiàn)場(chǎng)的低阻快速檢測(cè)（如觸點(diǎn)、導(dǎo)線電阻）。
功能與應(yīng)用
三款均支持 4 端測(cè)試，AB2511 與 AT2511 側(cè)重產(chǎn)線分選（帶比較器）；AT518L 側(cè)重便攜與現(xiàn)場(chǎng)，支持?jǐn)?shù)據(jù)存儲(chǔ)與導(dǎo)出。
AT2511 是 AT511A 升級(jí)款，價(jià)格更低，適合預(yù)算有限的批量質(zhì)檢。
選型建議
| 需求場(chǎng)景 | 優(yōu)先推薦型號(hào) | 理由 |
|---|---|---|
| 實(shí)驗(yàn)室 / 產(chǎn)線批量低阻測(cè)試（精度 0.1%） | AB2511 | 臺(tái)式穩(wěn)定，精度高，適配自動(dòng)化分選 |
| 產(chǎn)線批量測(cè)試（預(yù)算有限，精度 0.2% 即可） | AT2511 | 性價(jià)比高，滿足常規(guī)低阻測(cè)量需求 |
| 戶外 / 設(shè)備現(xiàn)場(chǎng)低阻檢測(cè)（需便攜、溫度補(bǔ)償） | AT518L | 手持便攜，續(xù)航久，適配現(xiàn)場(chǎng)復(fù)雜環(huán)境 |
直流低電阻測(cè)試儀關(guān)鍵使用提示
三款均為低電阻測(cè)試儀，不可用于電壓測(cè)量，測(cè)低阻時(shí)建議用 4 端測(cè)試法，減少引線電阻影響。
AT518L 高電流模式適合低阻大電流測(cè)試，低電流模式適配熱敏元件等電流敏感器件。
