型號/規格：TZ240-ST-212#$%^3#$貿易商%^125#$全新%^621#$%^4#$中國

產品描述：方塊電阻測試儀 型號:TZ240-ST-21 技術指標 測量范圍 按方塊電阻量值大小分為二個量程檔： 1.方塊電阻 1.00～199.99Ω/□； 2.方塊電阻 10.0～1999.9...

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型號/規格：ST-213072#$%^3073#$%^3074#$%^3075#$%^3076#$%^3077#$%^3078#$%^3079#$%^3080#$

產品描述：方塊電阻測試儀是一種依照類似的準和美國A..T.M準，專門測量半導體薄層電阻(表面電阻)的儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜...

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型號/規格：ST-213072#$%^3073#$%^3074#$%^3075#$%^3076#$%^3077#$%^3078#$%^3079#$%^3080#$

產品描述：方塊電阻測試儀是一種依照類似的準和美國A..T.M準，專門測量半導體薄層電阻(表面電阻)的儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜...

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型號/規格：ST-213072#$%^3073#$%^3074#$%^3075#$%^3076#$%^3077#$%^3078#$%^3079#$%^3080#$

產品描述：方塊電阻測試儀是一種依照類似的準和美國A..T.M準，專門測量半導體薄層電阻(表面電阻)的儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜...

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型號/規格：ST-21L3072#$%^3073#$%^3074#$%^3075#$%^3076#$%^3077#$%^3078#$%^3079#$%^3080#$

產品描述：特點： 1 采用大規模集成電路作為儀器的主要部，測量準確穩定，低功耗； 2 以大屏幕LCD顯示讀數，直觀清晰； 3 采用單個電池供電，帶電池...

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型號/規格：ST-21L1986#$%^1181#$%^1182#$%^1183#$%^1184#$%^1185#$%^1186#$%^1187#$%^1188#$%^1189#$%^1190#$%^1191#$%^1192#$%^1193#$

產品描述：特點：1采用大規模集成電路作為儀器的主要部分，測量準穩定，低功耗；2以大屏幕LCD顯示讀數，直觀清晰；3采用單個電池供電，帶電池欠壓指示；4體積≤175mm X...

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型號/規格：ST-213072#$電阻測試儀%^3073#$%^3074#$%^3075#$%^3076#$%^3077#$%^3078#$%^3079#$%^3080#$

產品描述：方塊電阻測試儀是一種依照類似的標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻(表面電阻)的儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金...

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型號/規格：JZ-ST21L型18#$九州空間%^19#$制造商%^141#$全新%^20#$北京

產品描述：JZ-ST21L型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻(表面電阻)的新型儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(...

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型號/規格：JZ-ST21L型18#$九州空間%^19#$制造商%^141#$全新%^20#$北京

產品描述：JZ-ST21L型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻(表面電阻)的新型儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(...

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型號/規格：JZ-ST2018#$九州空間%^19#$制造商%^141#$全新%^20#$北京

產品描述：JZ-ST20掌上型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的新型儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜...

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型號/規格：JZ-ST2018#$九州空間%^19#$制造商%^141#$全新%^20#$北京

產品描述：JZ-ST20掌上型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的新型儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜...

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型號/規格：FT-393102#$盤羊%^103#$制造商%^139#$全新%^104#$

產品描述：五、 概述： 參照硅片電阻率測量的國際標準（ASTM F84）及國家標準設計制造該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、...

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型號/規格：FT-393102#$盤羊%^103#$制造商%^139#$全新%^104#$

產品描述：五、 概述： 參照硅片電阻率測量的國際標準（ASTM F84）及國家標準設計制造該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、...

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型號/規格：ST-21

產品描述：ST-21型方塊電阻測試儀是四探針方塊電阻測試儀中的新一代產品，是一種依照類似標準和美國A.S.T.M標準而設計，專門測量半導體方塊電阻(或稱薄屋電阻、面電阻，...

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型號/規格：ST-21

產品描述：ST-21型方塊電阻測試儀是四探針方塊電阻測試儀中的新一代產品，是一種依照類似標準和美國A.S.T.M標準而設計，專門測量半導體方塊電阻(或稱薄屋電阻、面電阻，...

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型號/規格：M-2型便攜數字式四探針電阻率方阻測試儀

產品描述：M-2型數字式四探針測試儀簡介一、結構特征 如上圖 二、概述 M-2型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀、塊狀半...

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型號/規格：M-2型便攜數字式四探針電阻率方阻測試儀

產品描述：M-2型數字式四探針測試儀簡介一、結構特征 如上圖 二、概述 M-2型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀、塊狀半...

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型號/規格：XY

產品描述：產品品牌：智杰 產品型號：XY ...

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型號/規格：XY

產品描述：產品品牌：智杰 產品型號：XY ...

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產品描述：產品品牌：羲和 薄膜方塊電阻測試儀主要用來測量硅外延層、擴...

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