產品介紹:
PVE300為太陽能電池光譜響應測試，或稱量子效率QE（QuantumEfficiency）測試，或光電轉化效率E (Monochromatic IncidentPhoton-to-Electron Conversion Efficiency) 測試等，配備可選的集成范圍，還能夠測量內部量子效率（IQE），以及對反射系數和比進行采樣。廣義來說，就是測量光電材料的光生電流特性在不同波長光照條件下的數值。
基于Bentham公司的技術及25年的行業經驗，PVE300能夠快速并準確的給出分析數據，是經過市場檢驗的被廣泛應用的的國際品牌。
產品特點：
■ 適用于種類太陽電池（含薄膜電池），包括：
單晶硅/多晶硅/非晶硅/砷化鎵GaAs/鎵銦磷GaInP/磷化銦InP/鍺Ge/碲化鎘CdTe/銅銦硒CIS/銅銦鎵硒CIGS/染料敏化DSSC/太陽電池/聚合物太陽電池
■ 適用于多種結構的太陽電池：單結Single junction/多結multijunction/薄膜thin film 等
■ 完整的分析系統：
光譜響應度/外量子效率/內量子效率/反射率測試/透過率測試/表面均勻度/短路電流密度
■ 可以實現全光譜太陽光模擬（300~2500nm），測試的光伏材料拓展至近紅外
■ 直接測量SR及QE
■ 橫流器，偏壓源及內置探測器測試
■ 光密測量室
■ 20x20cm溫度控制真空裝置，在小于1度
■ 選擇單個或多個通道的太陽模擬器
■ 校準的參考硅/鍺探測器
■ 整個產品軟件的兼容性強
■ 一體化設計操作更方便，系統更穩定
■ 系統可升級到采用雙單色參考太陽能裝置規定的的測量的要求。
■ 提供完整的3年標準保修。
選配功能：
■ 選配內部量子效率（IQE）裝置
■ 自動化XY平臺，對均勻性的測量
■ 第二套單色儀（能測量熒光材料的均勻性和特征）
■ 根據客戶需求設計和配置
技術參數：
窗體 單色探頭窗體底端 | |
探頭光源 | 石英鹵素燈和/或氙氣 |
單色配置 | 對稱，切爾尼-特納(Czerny-Turner)型光柵單色器 |
單色焦距 | 300毫米 |
帶寬 | 可調整的固定狹縫，1-10nm（典型） |
光柵數 | 1-3 |
分辨率 | 0.3nm（1200g/mm）；0.6nm (600g/mm) |
色散 | 2.7nm/mm（1200g/mm）；5.4nm/mm (600g/mm) |
波長 | ±0.2nm（1200g/mm）；±0.4nm（600g/mm） |
探頭成像系統 | 基于鏡像 |
探頭尺寸 | 1- 10mm |
溫控裝置 | |
溫度控制 | 珀爾貼（Peltier-based ）熱泵 |
溫度穩定性 | ±1℃ |
太陽模擬器 | |
傳輸方式 | 分支纖維束 |
偏置源輻照 | 0-1.5太陽 |
偏壓源的均勻性 | ±1％ |
檢測電子裝置 | |
參考校準器 | 硅300-1100nm；鍺800-1800nm |
的光電流 | 變壓器?1A；477放大器?100mA |
小響應（變壓器） | 0.03 A W-1 nm-1 5nm BW, 2毫米探頭 |
軟件 | |
軟件控制 | BenWin+ Windows應用程序 |
測量能力 | |
光譜響應，S（λ）（AW -1） | 的光譜響應的設備 |
外部量子效率EQE（λ）（％） | EQE（λ）（％）=1.24x105xS（λ）/λ（nm）,也被稱為E。 |
樣品的反射率，R（λ）（％） | 總反射率（漫反射和鏡面） |
樣品的透過率T（λ）（％） | 漫 |
內部量子效率，IQE（λ）（％）窗體底端 | 考慮到光子活躍的地區的修正 |
典型客戶:
美國，歐洲，亞洲及國內太陽能及半導體客戶。
