適用范圍：
KURABO RX-400紅外膜厚儀適合測量無機(jī)/有機(jī)透明或半透明薄膜厚度，尤其適用于硅鋼表面絕緣涂層厚度的在線測量。
KURABO RX-400紅外膜厚儀主要特點(diǎn)：
(1)與X射線比較設(shè)備價格低；
(2)適于在線測量，可以距離鋼板等40mm檢測；
(3)高 可以檢測原來的紅外線膜厚度計無法測量的無機(jī)涂膜厚度及超薄涂層的厚度。
KURABO RX-400紅外膜厚儀技術(shù)參數(shù)：
測光方式：紅外反射吸收方式
分光方式：旋轉(zhuǎn)濾波方式(6個濾波片)
測量距離：40mm(從本體部下面)
測量面積：20*30mm(橢圓)
外形尺寸及重量：
檢測器 尺寸：410(W)*207(D)*160(H) (不含突起部分)
重量：8.5Kg
中繼連接器 尺寸：322(W)*113(D)*140(H) (不含突起部分)
重量：4Kg
電源：AC100V±10% 50/60Hz 200VA
數(shù)據(jù)處理部 尺寸：300(W)*275(D)*165(H) (不含突起部分)
重量：6Kg
電源：AC100V±10% 50/60Hz 200VA
工藝布置圖：
