適用范圍:
KURABO RX-400紅外膜厚儀適合測量無機(jī)/有機(jī)透明或半透明薄膜厚度,尤其適用于硅鋼表面絕緣涂層厚度的在線測量。
KURABO RX-400紅外膜厚儀主要特點(diǎn):
(1)與X射線比較設(shè)備價格低;
(2)適于在線測量,可以距離鋼板等40mm檢測;
(3)高 可以檢測原來的紅外線膜厚度計無法測量的無機(jī)涂膜厚度及超薄涂層的厚度。
KURABO RX-400紅外膜厚儀技術(shù)參數(shù):
測光方式:紅外反射吸收方式
分光方式:旋轉(zhuǎn)濾波方式(6個濾波片)
測量距離:40mm(從本體部下面)
測量面積:20*30mm(橢圓)
外形尺寸及重量:
檢測器 尺寸:410(W)*207(D)*160(H) (不含突起部分)
重量:8.5Kg
中繼連接器 尺寸:322(W)*113(D)*140(H) (不含突起部分)
重量:4Kg
電源:AC100V±10% 50/60Hz 200VA
數(shù)據(jù)處理部 尺寸:300(W)*275(D)*165(H) (不含突起部分)
重量:6Kg
電源:AC100V±10% 50/60Hz 200VA
工藝布置圖:







