E8是一款通用型能量色散型X射線熒光光譜儀,其光路系統國內外幾十年EDXRF技術;部件采用美國,軟件算法采用美國EDXRF前沿技術,儀器所用標準樣品均有第三方檢測機構;HeLeeX E8精密度高、準確度、檢出限等技術參數過國內外同類儀器。

儀器結構采用人體工程學設計,兩側按成人手臂長度設計,方便移動、搬運。

上蓋傾斜6度角,寓意對客戶的尊重。

表面采用汽車噴漆工藝,采用寶藍、雅致白搭配;藍色代表科技,白色代表圣潔,寓意對科學的敬仰。

樣品蓋鑲嵌鉛板屏蔽X射線

輻射標志警示

迷宮式結構,射線泄漏

連鎖設計,測試過程中誤打開樣品蓋時,電路0.1US快速切斷X射線。

儀器經第三方檢測,X射線劑量率合GB18871-2002《電離輻射護與輻射源基本標準》。

短光路設計:無鹵檢測分辨率,樣品分析效率;降低光管功率、延長儀器使用壽命。

模塊化準直器,根據分析元素,配備不同材質準直器;從而降低準直器對分析元素的影響,元素分辨率。

空氣動力學設計,加速光管冷卻;降低儀器內部溫度。

電路系統合EMC、FCC測試標準

技術快拆樣品盤,更換薄膜更方便

分析元素:Na-U

分析時間:60~400秒

配置RoHS檢測分析模型,無鹵分析模型

軟件界面簡潔、模塊化設計、功能清晰、易操作

HeLeeX ED Workstation V3.0軟件擁有數據一鍵備份,一鍵還原功能;保護用戶數據。

HeLeeX ED Workstation V3.0根據不同基體樣品,配備三種算法;增加樣品測試精準度。

HeLeeX ED Workstation V3.0配備開放式分析模型功能,客戶建立自己的工作模型。

應用領域:各種電子電器產品RoHS檢測

鹵素檢測

鍍層厚度分析

外形尺寸:380mmx510mmx365mm/長x寬x高

樣品倉尺寸:360mm×330mm×50mm/長x寬x高

功率:330W

工作溫度:15-30℃

相對濕度≤85%

X-123 Si-PIN探測器,采用原裝電致冷半導體探測器

晶體面積:25mm2

分辨率:145eV

X射線管電壓:0~50kV

電流:2.0mA

功率:50W

Be窗厚度:0.2mm

使用壽命大于2萬小時

燈絲電流:0~2mA

功率:50W

紋波系數:0.1%

8小時穩定性:0.05%

攝像頭:500萬像素

光斑大小:Φ0.3mm、Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ2.0mm、Φ5.0mm、Φ7.0mm可選

多種濾光片、準直器組合,軟件自動切換

開關電源

低噪聲、大風量風扇