耐用且價廉的X射線熒光測試儀器，可測量鍍層厚度和進行材料分析.
特點
- 用于電鍍行業中的鍍層厚度測量
- 固定的準直器和固定的基本濾片
- X射線管配有稍大的主光斑，適合測量約1 mm 以上的測量點
- 量光束產生較少射線，然而，對于傳統的電鍍層如鉻、鎳、銅等鍍層的測量，不會有任何問題。
- 從下至上的射線方向，從而可以快速簡便的放置樣品
- 底部C型開槽的大容量測量艙
- 標準X射線管，比例計數器
典型應用領域
- 測量線路板工業中 Au/Ni/Cu/PCB 或 Sn/Cu/PCB中的鍍層
- 電子行業中接插件和觸點上的鍍層
- 裝飾性鍍層Cr/Ni/Cu/ABS
- 電鍍鍍層，如大規模生產件（螺栓和螺母）上的腐蝕保護層Zn/Fe，ZnNi/Fe
- 珠寶和鐘表工業
- 測量電鍍液中金屬成分含量
對于CHERSCOPE®X-RAYXUL和XULM系列來
說，X射線源和接收器位于測量室的下方，這樣
可以快速方便地定位樣品。除此以外，視頻窗口
也可以輔助定位，儀器前方的大控制臺簡化了操
作，是在日常生產中測量大量部件時有
用。
盡管結構緊湊，但這些儀器都有大容量的測量
室，這樣大的物品也可以測量。殼體的開槽設計
（C型槽）可以測量諸如印刷線路板類大而平整
的樣品，即使這些樣品可能無法放入測量
室。
樣品直接放置在平整的支撐臺上，或者定位
更高的手動XY工作臺上。
XUL和XULM都配備了比例接收器；但是它們配
備的X射線管，濾片和準直器是不同的。便宜耐
用的XUL配備了一個準直器和一個固定的濾片。
內置的標準X-RAY管產生的基本射線光束較大；
因此小可用的準直器為0.3 mm。基于光線的
擴散，小的測量點在0.7 mm – 1mm左右。
