產品品牌：

鄭州匯科

產品型號：

集成電路測試儀ICT33C+ 可測模擬IC

1．工作原理：prefix = o ns = "urn:schemas-microsoft-com:office:office"

ICT33c+集成電路測試儀是以器件預期響應法為指導思想，以單片機智能化為結構的多功能測試儀器。它以MCS51單片機為，配合大規模軟件和外圍擴展系統來全面模擬被測器件的綜合功能。儀器的設計基礎立足于這樣的原則：在數字集成電路眾多參數中，邏輯功能是重要，根本，能說明問題的參數。

2．系統主要構成：

（1）      CPU：MCS51系列產品89C52；主頻：11.059M。

（2）      程序存儲器：128K EPROM。

（3）      RAM緩沖區：128K靜態RAM。

（4）      顯示器：8位液晶顯示器。

（5）      操作鍵盤：20位輕觸式按鍵鍵盤。

（6）      輸出：七只LED+八位液晶顯示+聲音提示。

（7）      機箱：全塑結構機箱。

3．主要參數：

（1）      電源電壓：AC220V±15%，50HZ。

（2）      整機功耗：15VA。

（3）      測試電壓：3.3V，5.0V，9.0，15V。

（4）      編程電壓：12.5V，21V。

（5）      測試腳數：DIP封裝40腳；SOP封裝20腳（須另購適配器）。

（6）      型號輸入位數：3——6位。

（7）      適用溫度：0——40℃。

（8）      測試規范：輸入短路測試；輸出短路測試；100%功能測試。

（9）      輸出高電平VOH：大于2.8V（VT=5.0V）。

（10）  輸出低電平VOL：小于0.7V（VT=5.0V）。

（11）  輸入高電平VIH：大于4.5V（VT=5.0V）。

（12）  輸入低電平VIL：小于0.2V（VT=5.0V）。

4.功能綜述

（1）      器件好壞判別：當不知被測器件的好壞時，儀器可判別其邏輯功能好壞。

（2）      器件型號識別：當不知被測器件的型號時，儀器可依據其邏輯功能來判斷其型號。

（3）      器件老化測試：當懷疑被測器件的穩定性時，儀器可對其進行連續老化測試。

（4）      器件代換查詢：儀器可顯示有無邏輯功能一致，引腳排列一致的器件型號。

（5）      內部RAM緩沖區修改：儀器可對內部緩沖區進行多種編輯。

（6）      微機通訊：儀器可通過串行口接受來自微機的數據或將內部RAM緩沖區的數據傳送到微機。

（7）      ROM器件讀入：儀器可將128K以內的ROM器件內的數據讀入并保存。

（8）      ROM器件寫入：儀器可將內部緩沖區的數據寫入到128K以內的ROM器件中。

5．適用范圍

ICT33C+具有以下主要用途：

（1）      維修各類電子產品，判斷其集成電路故障。

（2）      破譯被抹去型號集成電路的真實型號。

（3）      燒寫各類EPROM、EEPROM、FLASH ROM、單片機片內ROM。

（4）      開發各類智能電子產品，調試程序。

（5）      檢驗新購器件的質量。

6．測試容量

ICT33C+可測器件包含以下各大系列：

（1）      TTL74、54系列。

（2）      TTL75、55系列。

（3）      CMOS40、45、14系列。

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