產(chǎn)品品牌：

偉龍

產(chǎn)品型號(hào)：

MC-2000

一、儀器特點(diǎn)：    WL-2000型涂（鍍）層測(cè)厚儀是高新技術(shù)的結(jié)晶，它采用單片機(jī)技術(shù)，高、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定、功耗低、操作簡(jiǎn)單方便、無(wú)校正旋鈕、單探頭全量程測(cè)量、體積小、重量輕；且具有存儲(chǔ)、讀出、低電壓指示、其性能達(dá)到當(dāng)代國(guó)際同類(lèi)儀器的先進(jìn)水平。 二、應(yīng)用范圍：     本儀器采用磁性測(cè)厚法，可以方便無(wú)損地測(cè)量鐵磁材料上非磁性涂層的厚度，如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃鋼、噴塑、瀝青等涂層的厚度。該儀器廣泛應(yīng)用于機(jī)械、汽車(chē)、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。 三、工作原理：     WL-2000型涂（鍍）層測(cè)厚儀采用電磁感應(yīng)法測(cè)量涂（鍍）層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以地測(cè)量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂（鍍）層厚度。 四、技術(shù)參數(shù)     1、測(cè)量范圍：   0～1500μm     2、測(cè)量誤差：   ＜3%±1μm     3、小示值：   1μm     4、顯示方式：   4位液晶數(shù)字顯示     5、主要功能：      (1).測(cè)量： 單探頭全量程測(cè)厚      (2).儲(chǔ)存： 可存入測(cè)量數(shù)據(jù)254個(gè) (3).讀： 讀出已存入測(cè)量數(shù)據(jù)      (4).校正： 隨機(jī)標(biāo)準(zhǔn)試片校正      (5).打印： 選配微型打印機(jī)      (6).背光： 采用先進(jìn)的EL自動(dòng)背光      (7).關(guān)機(jī)： 后測(cè)量后8分鐘左右自動(dòng)關(guān)機(jī)     6、電源：   3.6v充電電池     7、功耗：   功耗100mw     8、外形盡寸：   50*95*24mm³     9、重量：   90g 10、使用環(huán)境溫度：0℃～+40℃ 相對(duì)濕度：不大于90%     11、基體小厚度：0.2mm     12、基體小平面：7mm     13、小曲率半徑：  凸：1.5mm  凹：6mm     14、欠電壓指示：    左下角顯示“欠”   *臨界厚度小：工件鐵基厚度大于1mm時(shí)，其涂（鍍）層厚度的測(cè)量不受鐵基厚度影響。

＋   －      開(kāi)    號(hào)

探頭接口

 

   

HL

ET

PCI

CL

IN

 

          第二章  應(yīng)用方法     讀本章內(nèi)容時(shí)，應(yīng)結(jié)合儀器，對(duì)照附圖，熟悉儀器外部結(jié)構(gòu)及各部位名稱(chēng)。 一、開(kāi)機(jī)前準(zhǔn)備：根據(jù)電池倉(cāng)蓋指示方向打開(kāi)電池倉(cāng)，電池正極朝外放入一節(jié)3.6v電池，壓好電池倉(cāng)蓋。 二、按鍵名稱(chēng)及作用     A.“開(kāi)”鍵，為復(fù)合鍵。在開(kāi)機(jī)狀態(tài)時(shí)，為開(kāi)機(jī)鍵；在儀器被干擾時(shí)為復(fù)位鍵。     B.“號(hào)”鍵，為樣片號(hào)鍵。在校正時(shí)可以選擇樣片號(hào)。     C.“+”、“-”鍵，為復(fù)合鍵。僅在調(diào)整時(shí)間日 期和讀測(cè)量值時(shí)有效。在調(diào)整時(shí)間時(shí)分別為調(diào)整小時(shí) 和分鐘，在調(diào)整日期時(shí)分別為調(diào)整月和日。     D.“HL”：僅在校準(zhǔn)樣片時(shí)有效，作用為在校準(zhǔn)樣片時(shí)把測(cè)量值確認(rèn)為其樣片真實(shí)值。     E.“ET”：此鍵為復(fù)合鍵。在測(cè)量狀態(tài)下為存儲(chǔ)鍵；在打印狀態(tài)下為執(zhí)行打印鍵。     F.“IN”：按此鍵為調(diào)整系統(tǒng)設(shè)置，可以分別調(diào)整日期、時(shí)間，也可讀取和打印存儲(chǔ)點(diǎn)。     G.“PC”：僅在打印和讀取存儲(chǔ)時(shí)有效。在打印時(shí)， 此鍵為停止打印鍵。在讀取存儲(chǔ)狀態(tài)下此鍵為清除存儲(chǔ) 值。 三、使用方法（請(qǐng)仔細(xì)閱讀第11-12頁(yè)補(bǔ)充說(shuō)明） 1、開(kāi)機(jī):先插上探頭、然后按動(dòng)“開(kāi)”鍵后、儀器進(jìn)入自檢狀態(tài)，主顯區(qū)從99開(kāi)始快速遞減到0為止進(jìn)入測(cè)量狀態(tài)。如果當(dāng)前時(shí)間為中午12點(diǎn)，存儲(chǔ)地址為001，開(kāi)機(jī)進(jìn)入測(cè)量狀態(tài)后顯示屏顯示如圖A所示：                     2、校準(zhǔn)：              

001 測(cè) 0 - - - 12:00時(shí)間

通過(guò)樣片校準(zhǔn)后，該參數(shù)存

入儀器，方便以后調(diào)出直接 測(cè)量，儀器上電后可以直接 從鐵基開(kāi)始校準(zhǔn)。                 圖A

-001 測(cè) 0 0 0 0 12：00時(shí)間

-001 測(cè) - - - 1 12：00時(shí)間

把探頭放在被測(cè)件的毛坯上(一定要打磨光滑)或隨機(jī)攜帶的鐵基試塊上，屏幕上出一數(shù)值(0或其它)，一手按住探頭不動(dòng)，另一手按住儀器

側(cè)面 “HL”鍵儀 器屏顯如右圖D， 鐵基校準(zhǔn)完畢指向1號(hào)樣片。           圖D        

-001 測(cè) - - - 2 12：00時(shí)間

-001 測(cè) 0 1 0 9 12：00時(shí)間

拿掉探頭，把1號(hào)樣片(109μm)放到鐵基上，拿探頭測(cè)量，屏幕上顯示出一數(shù)值。

手按住探頭不動(dòng)， 按住側(cè)面“HL”鍵 儀器顯示如圖E， 1號(hào)樣片校準(zhǔn)完畢指向2號(hào)樣片。     圖E

-001 測(cè) - - - 0 12：00時(shí)間

-001 測(cè) 1 0 5 4 12：00時(shí)間

拿掉探頭，把

2號(hào)樣片（1054μm） 放到鐵基上，放探頭 測(cè)量，屏幕顯示出一 數(shù)值，手按住探頭不動(dòng)，             圖F 按住側(cè)面“HL”鍵，屏顯示如圖F，樣片校準(zhǔn)完畢指向0號(hào)樣片。 此時(shí)2號(hào)樣片校準(zhǔn)完畢，可直接進(jìn)行測(cè)量，或把2號(hào)樣片分別放在校準(zhǔn)鐵基上測(cè)量，如超出誤差范圍，可對(duì)超出樣片重新校準(zhǔn)，方法如下，按動(dòng)“號(hào)”鍵，儀器把當(dāng)前校準(zhǔn)樣片號(hào)調(diào)出顯示，如不是超差樣片，

-001 測(cè) - - - 2 12：00時(shí)間

按住“號(hào)”鍵不動(dòng)，樣片號(hào)

從0～2循環(huán)顯示，到認(rèn)可校 準(zhǔn)樣片號(hào)，松開(kāi)“號(hào)”鍵。           圖G 如：要重新校準(zhǔn)2號(hào)樣片，當(dāng)前屏幕顯示如圖G:

002 測(cè) 0 1 8 3 12：00時(shí)間

001 測(cè) 0 1 8 3 12：00時(shí)間

      把2號(hào)樣片放入鐵基測(cè)量出一數(shù)值，按住探頭不動(dòng)，按“HL”后，屏幕上顯示下一個(gè)校準(zhǔn)樣片號(hào)，校準(zhǔn)完畢。可直接進(jìn)行測(cè)量。

3.在測(cè)量狀態(tài)下存儲(chǔ) 在測(cè)量狀態(tài)下屏 幕顯示為新測(cè)量值，如 需存儲(chǔ)按動(dòng)儀器側(cè)面      按“ET”前        按“ET”后 “ET”鍵，存儲(chǔ)地址自動(dòng)加1，例如前地址為001，測(cè)量厚度值為183μm,存儲(chǔ)前后屏幕如圖：     屏顯結(jié)果只能被存儲(chǔ)，如需存儲(chǔ)可重新測(cè)量。     4.設(shè)置使用：

讀-001  0 1 8 3 日期02：28

無(wú)論在什么狀態(tài)下按住“TM”鍵儀器四種功能循環(huán)顯示，循環(huán)方式為：讀--打印--時(shí)間--日期--讀，

例如要設(shè)為“打印”狀態(tài)，在屏幕顯 示“打印”標(biāo)志時(shí)松手即可，儀器進(jìn)入 打印狀態(tài)。 （1）、讀狀態(tài)如圖H所示：              圖H    -001為當(dāng)前存儲(chǔ)地址,0183μm為001地址內(nèi)存儲(chǔ)測(cè)量值,日期02.28為測(cè)量時(shí)日期,按動(dòng)儀器上方“＋”鍵地址加1,并同時(shí)把存儲(chǔ)測(cè)量值和測(cè)量日期調(diào)出顯示，按住不動(dòng)，地址連續(xù)增加，同理按動(dòng)“-”鍵地址減1，按住“-”鍵不動(dòng)，地址連續(xù)減小，通過(guò)按動(dòng)“+”、“－”鍵能快速查找到任何地址的測(cè)量值與日期。 該讀狀態(tài)下“CL”鍵的使用：

讀-118  0 1 8 8 日期02：28

讀-118  0 0 0 0 日期02：28

 在“讀”狀態(tài)下按動(dòng)“CL”鍵，僅僅把當(dāng)前地址所對(duì)應(yīng)的測(cè)量結(jié)果和日期清除為0，

如圖所示：                                                                 未讀“CL”時(shí)         讀狀態(tài)下按“CL”后    (2)、打印狀態(tài)(如圖I所示：)

-001  - - - 打印 12：00時(shí)間

首先把打印機(jī)準(zhǔn)備好，把打印機(jī)插好聯(lián)線，裝入打印紙，接上電源，此時(shí)紅燈綠燈都亮，若是綠燈沒(méi)有亮，則按動(dòng)“SEL”鍵，綠燈亮起說(shuō)明打印機(jī)已準(zhǔn)備好。把打印機(jī)聯(lián)線另一頭三針插頭根據(jù)套紅管插針插入儀器帶紅點(diǎn)

一側(cè)的方向，插入儀器，打印準(zhǔn)備 完畢，按動(dòng)“ET”鍵儀器從屏顯地 址開(kāi)始打印，若停止打印，按住“CL”      圖I 鍵以在讀狀態(tài)下通過(guò)“+”、“-”鍵設(shè)置。     

-001  - - - - 12：00時(shí)間

    (3)、時(shí)間狀態(tài)（入圖J所示：）

時(shí)間顯示為現(xiàn)在時(shí)間，如時(shí)間不準(zhǔn)確， 可通過(guò)“+”、“-”鍵修改按動(dòng)“+”小 時(shí)以1為單位增加，按動(dòng)“-”鍵分鐘 以1為單位增加，分別按住“+”、“-”      圖J 鍵不動(dòng)，小時(shí)，分鐘連續(xù)增加，但注意，如增加過(guò)量，小時(shí)和分鐘不能減小，需把時(shí)間日期清除為0，再重新設(shè)置，清除辦法見(jiàn)下面章節(jié)。                                      (4)、日期狀態(tài)：（如圖K所示：）

-001  0 0 0 0 日期02：28

 日期顯示為現(xiàn)在日期，如日期不準(zhǔn)確可通過(guò)“+”、“-”鍵修改，按動(dòng)“+”鍵，月份以1為單

位增加，按動(dòng)“－”日期以1為單位增加， 分別按住“＋”、“－”鍵不動(dòng)，月份日期 連續(xù)增加。注意：如果增加過(guò)量不能減小， 需把日期、月份清除為0再進(jìn)入日期狀           圖K 態(tài)重新設(shè)置，清除辦法見(jiàn)下面章節(jié)。 (5).日期、時(shí)間、存儲(chǔ)地址清除

-001 測(cè) 0 - - - 00：00時(shí)間

儀器開(kāi)機(jī)上電時(shí)，請(qǐng)按住“CL”鍵不動(dòng)，然后按動(dòng)“開(kāi)”鍵。自檢狀態(tài)完成時(shí)，松開(kāi)“CL”鍵即可。

這時(shí)存儲(chǔ)地址為“-001”，時(shí)間，日期被 清除為0。清除后屏顯如圖L所示： 四、注意事項(xiàng)：                               圖L （1）測(cè)量曲面及圓柱體，曲率半徑較小，應(yīng)在為涂覆的工件上校準(zhǔn)，以保證測(cè)量。 （2）在曲率半徑較小的凹面內(nèi)測(cè)量時(shí)，應(yīng)重新矯正。 （3）為保證測(cè)量，校正在開(kāi)機(jī)10分鐘后進(jìn)行。 五、影響測(cè)量的若干因素： 基體金屬磁化 磁性法測(cè)量受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的）。為了避免熱處理、冷加工等因素的影響，應(yīng)使用與鍍件金屬工具有相同性質(zhì)的鐵基片上對(duì)儀器進(jìn)行校對(duì)。       基體金屬厚度     每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度，大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體厚度的影響。     邊緣效應(yīng)    本儀器對(duì)試片表面形狀的陡變敏感，因此在靠近試片邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。     曲率     試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響，這種影響是隨著曲率半徑減小明顯增大。因此不應(yīng)在試件超過(guò)允許的曲率半徑的彎曲面上測(cè)量。     表面粗糙度     基體金屬和表面粗糙度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差。每次測(cè)量時(shí)，在不同位置上增加測(cè)量的次數(shù)，克服這種偶然誤差。     如果基體金屬粗糙還必須在未涂覆的粗糙相類(lèi)似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn)；或用沒(méi)有腐蝕性的溶液除去在基體金屬覆蓋層，在校對(duì)儀器零點(diǎn)。     磁場(chǎng)     周?chē)鞣N電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性測(cè)量厚度的工作。     附著物質(zhì)     本儀器對(duì)那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須清除附著物質(zhì)，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。     探頭的放置     探頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響，在測(cè)量中使探頭與試樣表面保持垂直。     試片的變形     探頭使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上會(huì)出現(xiàn)不太可靠的數(shù)據(jù)     讀數(shù)次數(shù)         通常儀器的每次讀數(shù)并不完全相同。因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)測(cè)量值，覆蓋層厚度的局部差異，也要求在給定的面積內(nèi)進(jìn)行測(cè)量。表面粗糙時(shí)更應(yīng)如此。           第三章   維護(hù)與檢修 1.儀器應(yīng)防止潮濕、過(guò)熱和接觸腐蝕性氣體和液體。 2.不可晃動(dòng)或揪扯探頭線。 3.儀器應(yīng)保持清潔。 4.儀器長(zhǎng)期不用時(shí)，應(yīng)取出電池 5.測(cè)量不正常時(shí)應(yīng)作下述處理：  A：查電壓是否正常；電池正負(fù)極是否接觸良好。  B：測(cè)量方法是否得當(dāng)。  C：重大故障送廠或廠維修部修理。  D：每次使用必須先插上探頭然后在開(kāi)機(jī)，否則儀器不自檢。 6.電池使用：本機(jī)使用3.6v氫電，每次充電時(shí)間為6～10個(gè)小時(shí)，多不超過(guò)12個(gè)小時(shí)，以防過(guò)充，損壞電池。使用方法（補(bǔ)充說(shuō)明）：     開(kāi)機(jī)：先插上探頭，然后按動(dòng)“開(kāi)”鍵開(kāi)機(jī)，開(kāi)機(jī)后儀器進(jìn)入自檢狀態(tài)。屏幕顯示99、98、97、--0為止，進(jìn)入測(cè)量狀態(tài)，如圖：     校準(zhǔn)：把探頭放在被測(cè)件的毛坯上（一定要打磨光滑）或隨機(jī)鐵基試塊上面，屏幕顯示一數(shù)值（0或其他數(shù)），一手按住探頭不動(dòng),另一手按住儀器側(cè)“HL”鍵,儀器屏幕顯示:0000、--1。如圖：鐵基0校準(zhǔn)完畢。     拿掉探頭，把1號(hào)樣片放到鐵基上面，把探頭放到1號(hào)樣片上面，屏幕顯示一數(shù)值。一手按住探頭不動(dòng)，另一手按住儀器側(cè)面“HL”鍵，儀器屏幕顯示被測(cè)樣片數(shù)值，然后顯示---2。如圖：樣片1校準(zhǔn)完畢。     拿掉探頭和1號(hào)樣片，把2號(hào)樣片放到鐵基上面，把探頭放到2號(hào)樣片上面，屏幕顯示一數(shù)值，一手按住探頭不動(dòng)，另一手按住儀器側(cè)面“HL”，儀器屏幕顯示被測(cè)樣片數(shù)值，然后顯示----0。如圖：樣片2校準(zhǔn)完畢。     樣片校準(zhǔn)完畢進(jìn)入測(cè)量，此時(shí)把1號(hào)樣片和2號(hào)樣片分別放在鐵基體上進(jìn)行測(cè)量，如測(cè)量結(jié)果超出誤差范圍，可對(duì)超出樣片重新校準(zhǔn)。如未超出誤差范圍可進(jìn)行涂（鍍）層測(cè)量。     重新校準(zhǔn)方法如下：     按動(dòng)“號(hào)”鍵，把儀器當(dāng)前校準(zhǔn)樣片號(hào)調(diào)出顯示，如不是超差樣片，按住“號(hào)”鍵不動(dòng)，樣片號(hào)從---0、---1、---2，循環(huán)顯示。到認(rèn)可校準(zhǔn)樣片號(hào)，松開(kāi)“號(hào)”鍵。如：要重新校準(zhǔn)2號(hào)樣片，按動(dòng)“號(hào)”鍵不動(dòng)，樣片號(hào)從0、1、2顯示，當(dāng)屏幕顯示---2時(shí)，松開(kāi)“號(hào)”鍵，把2號(hào)樣片放到鐵基上，按住探頭不動(dòng)，按“HL”鍵，儀器屏幕顯示被測(cè)樣片數(shù)值，校準(zhǔn)完畢，可進(jìn)行測(cè)量。  附一  裝箱單 一、WL-2000型涂（鍍）層測(cè)厚儀         一臺(tái) 二、3.6v充電器                        一個(gè) 三、3.6v充電電池                      二節(jié) 四、探頭                              一支 五、標(biāo)準(zhǔn)樣片                         一盒