介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀使用條件
①環(huán)境溫度： 0～40℃
②相對溫度：≤70%
③供電電流：交流 220V±10%50Hz
2.3 儀器可連續(xù)工作 8 小時
2.4 消耗功率：約 10W
2.5 外形尺寸：長寬深 355mm×320mm×145mm
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀主要技術(shù)指標(biāo)：
2.1 tanδ和ε性能：
2.1.1 固體緣材料測試頻率10kHz～120MHz的tanδ和ε變化的測試。
2.1.2 tanδ和ε測量范圍：
tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50
2.1.3 tanδ和ε測量（1MHz）：
tanδ：±5%±0.00005，ε：±2%
工作頻率范圍：50kHz～50MHz 四位數(shù)顯，壓控振蕩器
Q值測量范圍：1～1000三位數(shù)顯，±1Q分辨率
可調(diào)電容范圍：40～500 pF ΔC±3pF
電容測量誤差：±1%±1pF
Q表殘余電感值：約20nH
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀特點：
◎ 本公司的自動Q值保持技術(shù)，使測Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。
◎ 能對固體緣材料在10kHz～120MHz介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測試。
◎ 調(diào)諧回路殘余電感值8nH，100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。
◎ LCD屏菜單式顯示多參數(shù)：Q值，測試頻率，調(diào)諧狀態(tài)等。
◎ Q值量程自動/手動量程控制。
◎ DPLL合成發(fā)生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz測試信號。信號 源輸出口，所以本機又是一臺合成信號源。
◎ 測試裝置合國標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀電感器：
按測試頻率要求，需要配置不同量的電感器。
例如：在1MHz測試頻率時，要配250μH電感器，在50MHz測試頻率時，要配0.1μH電感器等。
高頻介質(zhì)樣品（選購件）：
在現(xiàn)行高頻介質(zhì)材料檢定系統(tǒng)中，檢定部門為高頻介質(zhì)損耗測量儀提供的測量標(biāo)準(zhǔn)是高頻標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品。
該樣品由人工藍(lán)寶石，石英玻璃，氧化鋁陶瓷，聚四氟乙烯，環(huán)氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm測試樣品。用戶可按需訂購，以測試裝置的重復(fù)性和準(zhǔn)確性。
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀主要技術(shù)指標(biāo)：
2.1 tanδ和ε性能：
2.1.1 固體緣材料測試頻率10kHz～120MHz的tanδ和ε變化的測試。
2.1.2 tanδ和ε測量范圍：
tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50
2.1.3 tanδ和ε測量（1MHz）：
tanδ：±5%±0.00005，ε：±2%
工作頻率范圍：50kHz～50MHz 四位數(shù)顯，壓控振蕩器
Q值測量范圍：1～1000三位數(shù)顯，±1Q分辨率
可調(diào)電容范圍：40～500 pF ΔC±3pF
電容測量誤差：±1%±1pF
Q表殘余電感值：約20nH
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀裝置：
2.3.1 平板電容器片尺寸：:Φ38mm和Φ50mm二種.
2.3.2 平板電容器間距可調(diào)范圍和分辨率：0～8mm，±0.01mm
2.3.3 圓筒電容器線性： 0.33 pF /mm±0.05 pF,
2.3.4 圓筒電容器可調(diào)范圍：±12.5mm（±4.2pF）
2.3.5 裝置插頭間距：25mm±0.1mm
2.3.6 裝置損耗角正切值:≤2.5×10-4
保存環(huán)境：
儀器要求的工作溫度：10℃－30℃，濕度：≤65%RH。
為了儀器測量或不損壞儀器，
請注意以下事項：
a. 請勿將儀器放在多灰塵、多振動、日光直射或有腐蝕氣體下使用。
b. 盡管儀器針對電源交流噪音進行了處理，但仍盡可能放置在噪音小的環(huán)境下使用。如實在無法避免，請為儀器另加穩(wěn)壓電源。
請將本儀器存放在溫度0℃－40℃的環(huán)境下，若長時間不用，應(yīng)包裝保存好。
