| 品牌：美國(guó)麥克儀器 型號(hào)：SediGraph III 5120 |
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| 詳細(xì)說(shuō)明: |
| 產(chǎn)品簡(jiǎn)介新一代的粒度分析儀將成熟的SediGraph分析技術(shù)與的檢測(cè)儀器功能相結(jié)合，提供卓越的重復(fù)性、準(zhǔn)確性和重現(xiàn)性。 SediGraph III通過(guò)X射線吸收測(cè)量樣品質(zhì)量，利用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的沉降法測(cè)量粒度，無(wú)需建模。該產(chǎn)品的技術(shù)已成為造紙、陶瓷、磨料等數(shù)個(gè)行業(yè)的金色標(biāo)準(zhǔn)。技術(shù)特點(diǎn)· 檢測(cè)范圍：0.1 到300 μm· 全顆粒度測(cè)試，無(wú)需建模· 選配的MasterTech 052自動(dòng)進(jìn)樣器提供多至18個(gè)樣品的自動(dòng)進(jìn)樣，無(wú)需人為介入 產(chǎn)品應(yīng)用適合于各種無(wú)機(jī)材料顆粒大小的分析研究尤其是非金屬礦物，例如：高嶺土、重鈣、輕鈣、粘土、泥漿等材料的分析，是高嶺土，重鈣，輕鈣粒徑的標(biāo)準(zhǔn)分析儀器。 |
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