高低溫試驗箱適用于電子電工產品、儀器儀表、原材料、電子元件等高低溫適應性試驗、低溫恒溫及儲存;可程式高低溫試驗箱適用于光纖、晶體、精密電感、PCB、LCD等產品的高低溫適應性試驗。
可程式高低溫試驗箱詳細資料:
特點:
可程式高低溫試驗箱采用按鍵式溫度控制器,PID算法,LCD顯示設定和測量溫度,溫度控制穩定,操作簡單,程式編輯容易;
可程式高低溫箱的送風循環系統,避免了氣流在箱內流通角,了產品溫度均勻度;
全封閉壓縮機+冷媒+機械式單級/復迭低溫回路系統,制冷,性高;
完善的保護裝置,產品的運行更加;
可程式高低溫試驗箱多樣的溫度控制器可供用戶選擇。
執行與滿足標準
1.GB/T10589-1989低溫試驗箱技術條件
2.GB/T11158-1989高溫試驗箱技術條件
3.GB/T10592-1989高低溫試驗箱技術條件
4.GB/T2423.1-2001 IEC60068-2-1試驗A規程:低溫試驗方法
5.GB/T2423.2-1989 IEC60068-2-2試驗B規程:高溫試驗方法
6.GB/T2423.22-1987試驗溫度變化試驗方法
7.G150.3-1986高溫試驗
8.G150.4-1986低溫試驗
9.IEC68-2-14試驗N







