PTQ-8晶體管綜合快速篩選臺已在原快速篩選儀器上作了大大改進，不但能按規定進行晶體管熱敏參數的快篩，而且可作常規直流參數測試儀器使用，具有的測試量程和，只要調用被測器件的型號，就能進入快速連續檢測。當被測器件由于穿通、二次擊穿和熱擊穿的，具有自動保護能力。　
　　
　　主要功能及技術指標：　　
　　1、能測試篩選PNP、NPN大、中、小功率三管。中文菜單式界面，操作簡便。
　　
　　2、能性自動測試、篩選VBE、VBC、hFE1、hFE2、ICEO、ICBO、IEBO、V（BR）CEO、V（BRCBO、V（BR）EBO、VC、VB的常溫、高溫值及常溫、高溫值變化量或變化率。并能任意選測或部分參數；若測常溫參數，每只器件1秒多。hFE1、hFE2　可以自動分10檔。
　　
　　3、可任意設定器件型號、測試條件及判據，并保存在系統中，通過瀏覽方式任意修改、調用。
　　
　　4、測試結果在大屏幕液晶顯示器（122×92mm）上顯示，并標識累計測試總量；標器件自動聲光報警，并在液晶屏上顯示告警信息。
　　
　　5、每項參數的測試結果通過統計可獲得值、小值、平均值。
　　
　　6、器件型號、測試時間、測試條件、失效判據、檢測結果及器件編號，可通過打印機打印輸出，或通過電腦串行口保存在電腦中。標器件自動標識。
　　
　　7、測試時選擇器件型號即可進入連續檢測，測試口有否被測器件自動識別。
　　
　　主要技術指標：　
　　VBE、VBC　　
　　測試范圍：0.1V～1V　
　　測試條件：1mA～1A
　　
　　hFE1、hFE2
　　測試范圍：5～500倍（可定制測達林頓管）
　　測試條件：VCE：1V～25V，IC：1mA～6A
　　
　　ICEO、ICBO　、IEBO
　　測試范圍：0.1uA～10mA
　　測試條件：10V～1000V（VEB：1V～100V）
　　
　　V（BR）CEO、V（BR）CBO、V（BR）EBO
　　測試范圍：10V～1000V（V（BR）EBO：5V～100V）
　　測試條件：50uA～10mA　　
　　
　　VC、VB
　　測試范圍：0.1V～3V
　　測試條件：IC：10mA～6A，　IB：1mA～1A
　　加溫PCM范圍：VCE：5V～25V，IC：0.1A～6A　　
　　加溫時間T：0～10S