品名：X射線熒光鍍層厚度測量儀
型號：SFT9200
技術參數
可測量元素：原子序數22(Ti)～92(U)
X射線源：小型空氣冷卻型X射線管球 管電壓：45kV 管電流：1mA Be窗
濾波器：濾波器：Al 二次濾波器：Co 數字濾波器
檢測器：比例計數管
準直器：方型：0.2×0.05mm 0.05×0.02mm
圓形：Φ0.1mm Φ0.2mm Φ0.3mm
性能：樣品室門自鎖功能、樣品沖撞功能、儀器自動診斷功能
樣品圖像對焦方式：激光自動對焦
樣品觀察：彩色CCD攝像頭
樣品平臺大小及承重：240mm(W) ×170mm(D) 10kg
重量：125kg (電腦)
修正功能：底材修正、已知樣品修正、人工輸入修正
測量書制作：配備MS-EXCEL® MS-WORD®(使用宏支持自動制作測量書)
測量能譜與樣品圖像保存功能
主要特點
1. 能夠測量無鉛焊錫
配備了薄膜FP法，可以同時測量Sn-Ag，Sn-Bi，Sn-Cu等，無鉛焊錫的鍍層后與成份
2. 搭載中心搜索軟件
通過掃描樣品可以自動檢測出線及基板點面部分的測量中心位置。
3. 擁有沖功能
4. 搭載激光對焦系統
5. 即時生成測量的便捷性
運用搭載的Microsoft Word® Excel® 可以簡單輕松得到制作。
6. 擁有自動測量軟件以及中心搜索軟件
7. 搭載了薄膜FP法軟件
8. 自動對焦功能
配備激光自動對焦功能，能夠準確對焦，測量效率。
儀器介紹
[SFT9200系列]繼承了擁有20多年歷史及光輝業績的[SFT系列]（操作性與性共存）的有點，并不斷發展，成為可對應較廣應用范圍的X射線熒光鍍層厚度測量儀[新標準機型]。
