XRF-2000 X射線測厚儀鍍層測厚儀測金機(jī)膜厚儀
　　X-射線鍍層測厚儀的特征：
　　1.可測量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度。
　　2.可通過CCD攝像機(jī)來觀察及選擇微小面積以進(jìn)行鍍層厚度的測量，避免直接接觸或破壞被測物。
　　3.備有250個(gè)以上的鍍層厚度測量和成分分析時(shí)所需的標(biāo)準(zhǔn)樣品。
　　
　　一、韓國Micro Pioneer XRF-2000 系列X射線測厚儀（原裝）
　　XRF2000能提供金屬鍍層厚度的測量，同時(shí)可對電鍍液進(jìn)行分析，不單性能，而且價(jià)錢，同比其他牌子相同配置的機(jī)器，XRF2000為您大大節(jié)省成本。數(shù)秒鐘，便能非破壞性地得到準(zhǔn)確的測量結(jié)果，甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。全自動XYZ樣品臺，鐳射自動對焦系統(tǒng)，十字線自動調(diào)整。／開放式的樣品臺，可測量較大的產(chǎn)品。是線路板、五金電鍍、飾、端子等行業(yè)的。可測量各類金屬層、合金層厚度等。
　　可測元素范圍：鈦（Ti）–鈾（U）原子序 22–92.
　　準(zhǔn)直器：固定種類大?。嚎蛇x圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm
　　自動種類大小：可選圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm
　　電腦系統(tǒng)：DELL品牌電腦，17寸液晶顯示器，惠普彩色打印機(jī)
　　綜合性能：鍍層分析定性分析定量分析鍍液分析統(tǒng)計(jì)功能
　　
　　二、美國Thermo 第二代X射線熒光測量儀器（高端型測厚儀）
　　實(shí)現(xiàn)了快速、精密、準(zhǔn)確的X-射線測量儀器。
　　MicronX可以同時(shí)測量多至6層的金屬鍍層的厚度和成分，測量厚度可以從埃（＆Aring；）至微米（μm），它也能測量多至20個(gè)元素的塊狀合金成分。其準(zhǔn)確度、精密度和穩(wěn)定性是的。
　　世界光學(xué)準(zhǔn)直器，光束少可達(dá)0.025mm；集中X-射線光束，強(qiáng)度加強(qiáng)5-8倍；適合較薄鍍層測量，測量時(shí)間為正常的1／5；配有ZOOM功能，圖象可放大至200倍；更新FP方法，適合多層厚度測量。
　　ZXR／LXR系統(tǒng)：用于小樣品的經(jīng)濟(jì)型。機(jī)械準(zhǔn)直器，氣體正比探測器。
　　GXR系統(tǒng)：斑點(diǎn)小，樣品量大。GXR能測量小至25μm的Sn、Pd和AG層及小至35μm的Au和Ni層。應(yīng)用于微電子器件、數(shù)據(jù)偶合器、光通訊和數(shù)據(jù)貯存等。
　　VXR系統(tǒng)：真空測量環(huán)境（真空導(dǎo)管技術(shù)），增加靈敏度和測定范圍（Al-U）。VXR利用真空技術(shù)和的焦耳—湯母遜制冷半導(dǎo)體探測器（140eV，F(xiàn)WHM）。
　　MXR系統(tǒng)：、、高分辨。利用光學(xué)準(zhǔn)直器透過元件發(fā)出強(qiáng)的40μm光束，將得到100—1000倍于相同大小光束的機(jī)械準(zhǔn)直器X-射線熒光的。電制冷半導(dǎo)體探測器提供增強(qiáng)的靈敏度和分辨率（220eV，F(xiàn)WHM）。適合用于半導(dǎo)體、光通訊、微電子、光子學(xué)、無源器件和薄層磁頭金屬化分析。
　　
　　三、供應(yīng)二手金屬鍍層X射線測厚儀
　　適用于五金、電鍍、精品飾、電子、手表、電路板等鍍層測量，如鍍金、銀、鎳等微小部位的高測量。
　　二手測厚儀還可以出租，租費(fèi)實(shí)惠，按年計(jì)算?？梢蕴峁┟绹鳹EECO、美國熱電、韓國XRF2000及日本精工X射線鍍層測厚儀的維修和保養(yǎng)服務(wù)。供應(yīng)以下二手設(shè)備：
　　1.美國VEECO X-射線鍍層厚度測量儀型號XRF-4000 XRF-5000等
　　2.日本精工X-射線鍍層厚度測量儀型號SFT-157 SFT-3000 SFT-7000 SFT-9000等
　　
　　四、貴屬珠寶測量儀（X射線原理）
　　快速、非破壞性和高的貴金屬珠寶成品測量儀，可直接得出開金（Karat）值。短期內(nèi)便能賺回成本的聰明投資。無論你的業(yè)務(wù)是批發(fā)、售、制造或是提煉回收，幫您省回時(shí)間和金錢。