20N推力試驗探針HT-I20
1N推力試驗探針HT-I21
一、產品概述：
本套探針分別合GB2099.1-2008標準中的圖9及圖 10、IEC884-1.2002圖9及圖10要求，20N推力探針主要用于檢驗保護門內的帶電部件是否被觸及，1N推力探針主要用于檢驗保護門內的帶電部件及有加強保護插座的帶電部件是否被觸及。
二、技術參數
20N推力試驗探針HT-I20：探針部分3＋0.03 0×1＋0.015 0×80±0.5，端部倒圓R0.2±0.05，20N推力；
1N推力試驗探針HT-I21：探針部分Φ1＋0.015 0×80±0.5，端部倒圓R0.05，1N推力
三、使用方法
將探針端部接觸試樣，然后施力20N（1N），當探針凸出端A-A面與B-B面平齊即可。
1N推力試驗探針HT-I21
一、產品概述：
本套探針分別合GB2099.1-2008標準中的圖9及圖 10、IEC884-1.2002圖9及圖10要求，20N推力探針主要用于檢驗保護門內的帶電部件是否被觸及，1N推力探針主要用于檢驗保護門內的帶電部件及有加強保護插座的帶電部件是否被觸及。
二、技術參數
20N推力試驗探針HT-I20：探針部分3＋0.03 0×1＋0.015 0×80±0.5，端部倒圓R0.2±0.05，20N推力；
1N推力試驗探針HT-I21：探針部分Φ1＋0.015 0×80±0.5，端部倒圓R0.05，1N推力
三、使用方法
將探針端部接觸試樣，然后施力20N（1N），當探針凸出端A-A面與B-B面平齊即可。
