愛色麗iCPlate2印版檢測儀：
——快捷的印版質量控制解決方案
X-Rite的便攜式iCPlateⅡ成功解決了直接制版P工藝中難的問題之一——快速而的印版質量控制。通過內置的高攝像機，iCPlateⅡ能分析印版的網點百分比、網線數、網點形狀、加網角度等，并顯示在液晶屏上。您按一下測量頭，就可以開始測量，并且測量的結果可以立即在iCPlateⅡ液晶顯示屏上看到，通過iCPlateⅡ您甚至能將網點放大，檢查其形狀，從而看到印版是否有擦痕。由于iCPlateⅡ使用了低功耗的液晶屏，您可以測量30,000次以上而不更換電池。iCPlateⅡ系列產品組合有四種供您選擇：
iCPlateⅡBasic iCPlateⅡBasic+PQS
iCPlateⅡAdvanced iCPlateⅡAdvanced+PQS
(注：PQS為可選配高端品控軟件)
·iCPlateⅡBasic為印版測試系統的基本款儀器，它可以測量網點百分比、通過測量做可視分析，適用于印版網點及調幅網點的樣品測量。
·iCPlateⅡAdvanced功能多、適用范圍廣的印版測量儀，從P版材到傳統印版都可以，通過其環形照明和三種不同的燈泡，既能測量陰圖版和陽圖版，也能測調頻或調幅網點。它可以再現網點直徑、網線數、網角、印版特性、樣本數據、視覺密度,并可利用軟件將此信息傳入電腦。
·TabwizardⅡ品控軟件和TargetⅡ標準測試軟件是iCPlateⅡAdvanced和iCPlateⅡBasic均包含的兩款軟件，您也可以選配PQS高端品控軟件配合iCPlateⅡ使用。
愛色麗iCPlate2：
功能比較 | iCPlate2 X | iCPlate2 XT | PlateScope |
主要功能 | 簡單的印版測量、檢查 | 常規的工作管理和印版測量、檢查 | 日常工藝控制、嚴格的工作管理和印版測量、檢查 |
度 | 普通模式可測量支持的 印版類型
| 普通模式可測量支持的 印版類型 | 普通模式可測量支持的印版類型， 包括用于用途的高測量的特定的 印版圖表 |
重復性 | 高重復性 | 高重復性 | 重復性能 |
標準印版支持 | 支持大多數常用的印版類型
| 支持大多數常用的印版類型 | 支持大多數常用的印版類型 |
免沖洗印版支持 | 如果使用的清洗液，支持高反 差免沖洗印版，如AGFA Azura 和Fuji Pro-T低印版 | 如果使用的清洗液，支持高反 差免沖洗印版，如AGFA Azura 和Fuji Pro-T低印版 | 支持高反差免沖洗印版，如AGFA Azura 和Fuji Pro-T低印版 |
易于使用 | 易于定位、高度可視目標 | 易于定位、高度可視目標 | 容易定位 – 的視頻目標定位系統可以 在一臂之遙或光線昏暗的條件下定位 |
連接 | 串行連接到計算機的COM端口上 | 串行連接到計算機的COM端口上 | U |
軟件 | 包括Capture Tool、PlateQuality 2.0（可選） | 包括Capture Tool、PlateQuality 2.0（可選） | 包括Capture Tool和PlateQuality 2.0 |
