光輻射測試系統主要測量LEDs，LED模組，LED燈具，熒光燈，HID燈，鹵素燈和其它照明產品的光譜功率分布、輻射度、輻照度、輻射暴露、特定輻射紫外功率(mW/klm)、照度、輻射曝光度、視源尺寸、相關色溫、色品坐標、顯色指數和色容差等。其測試參數包括紫外線危險加權輻照度，近紫外輻射，視網膜藍光危險加權輻射，視網膜熱危害，紅外輻射，可見光和紅外輻射等。被測燈可依據光生物危害值進行分級。
該系統主要滿足如下標準：IEC62471，EN62471，CIE S009，GB/T 20145，IEC/EN60598 Annex P.，
IEC/EN60432，GB7000.1，2005/32/EC和EUP directiv等。
被測光源的光輻射危險暴露水平主要是從200nm到3000nm相關的應基光譜輻照度和光譜輻射在特定的測量幾何與曝光時間來測量確定。
光輻射測試系統主要測量LEDs，LED模組，LED燈具，熒光燈，HID燈，鹵素燈和其它照明產品的光譜功率分布、輻射度、輻照度、輻射暴露、特定輻射紫外功率(mW/klm)、照度、輻射曝光度、視源尺寸、相關色溫、色品坐標、顯色指數和色容差等。其測試參數包括紫外線危險加權輻照度，近紫外輻射，視網膜藍光危險加權輻射，視網膜熱危害，紅外輻射，可見光和紅外輻射等。被測燈可依據光生物危害值進行分級。
該系統主要滿足如下標準：IEC62471，EN62471，CIE S009，GB/T 20145，IEC/EN60598 Annex P.，
IEC/EN60432，GB7000.1，2005/32/EC和EUP directiv等。
被測光源的光輻射危險暴露水平主要是從200nm到3000nm相關的應基光譜輻照度和光譜輻射在特定的測量幾何與曝光時間來測量確定。
技術參數：
? 波長范圍：200~800nm(EN62471-A)，200~1500nm(EN62471-B)，200~3000nm(EN62471-C)
? 輻射幾何：光學模擬人眼的視網膜
? 入射孔徑：Dia. 7mm 輻射測量；Dia. 20mm & 7mm 輻照度測量
? 視場：1.5mrad~110mrad (1.7mrad, 11mrad, 100/110mard)依據輻射測試暴露持續時間：100mrad，1.4rad和6.28rad輻照度測量
? 測試距離：200mm~6.0m(可選)恒定視場FOVs和輸入孔徑
? 成像分辨率：1600*1200
? 曝光掃描范圍：2pi-space
? 校準溯源：可溯源至計量院NIM
? 探頭：PMT/InGaAs/Si/PbS
? 成像輻射計：16位科學級制冷CCD
? 脈沖源采樣速度：20us~10s
? 波長：0.1nm(UV)，0.2nm(VIS)，0.4nm(IR)
? 可搭配分布光度計(LSG-1800B/LSG-1700B)
