Agilent 8753C|HP-8753C|HP8753C 6G射頻網絡分析儀 300kHz-6G 品牌：安捷倫Agilent惠普HP◆頻率范圍：30 kHz至3 GHz（標配）；300 kHz至3 GHz（選件011）；30 kHz至6GHz（選件011、006）◆集成化1Hz分辨率合成信號源 ◆用外部磁盤驅動器直接存儲/調用◆時域分析◆用測試序列功能實現復雜的測試過程◆達100dB的動態范圍◆可測量群延遲和與線性相位的偏離◆0.001dB，0.010，0.01ns的標記分辨率◆內置◆掃描諧波測量 描述HP8753C網絡分析儀為實驗室和生產測試領域提供了的RF網絡測量設備。當組合一套測試裝置，它為分析300kHz~6GHz的有源和無源網絡、器件與元件的線性特性提供了完滿的解決途徑。網絡分析儀有兩個的顯示通道，你可以同時測量待測器件的反射和傳輸特性，并以重疊或分離屏面的形式觀察測量結果。便于使用的預編程按鍵使你能快速測量待測器件的幅度、相位或群延遲特性。測試時序功能允許鍵入來、反復執行復雜的任務。在時序工作方式下，從面板測量，分析儀便能儲存鍵入，以至無需額外編程。還可以利用測試時序經HP-IB端口對其它裝置進行控制。另一些效率的措施包括繪圖儀/打印機緩沖區、限測試、任意頻率測試和標記跟蹤功能。分段校準和內插誤差修正能HP8753C分析儀已校頻率范圍的某一區段上的矢量。集成化的合成信號源提供大于100mW的輸出功率、1Hz頻率分辨率和線性、對數、列表、功率和連續波掃描類型。三個調諧接收機在300kHz ~ 3GHz（選件006擴展到6GHz）上在過100dB的動態范圍內進行功率測量或同時進行比值測量。當HP8753C連接HP85047A測試裝置時，可以從300kHz~3GHz或從3MHz~6GHz（測試裝置帶有倍頻器）研究待測設備的反射和傳輸特性。 非線性器件測試HP8753C具有測量非線性器件特性的能力，當增加了諧波測量功能（選件002），可以直接或相對于基本載波（dBc）顯示放大器的掃描、二次和三次諧波電平。當一個作為基本信號的掃描頻率低于16MHz時，可以快速和方便的測量達40dBc放大器諧波，使用同樣的測試設備通常還用來測量增益。功率計校準相對輸入或輸出電平敏感的器件提供穩幅的功率。HP8753C自動對HP436A、HP437B、或HP438A功率計進行控制，使在測試系統中任何處的功率都調到具有功率計的。分析儀還完成混頻器統調和變頻損耗測量。還能進行固定IF和掃描IF測量。 時域分析HP 8753C（帶選件010）具有顯示網絡時域響應的功能，分析儀計算頻域響應的傅立葉逆變換，顯示網絡的反射或傳輸系數與時間的關系。HP 8753C提供了兩種時域模式，低通模式提供傳統的時域反射計（TDR）測量能力，并給出網絡的階躍響應和沖擊響應。這種模式給出在不連續狀態的阻（R，L，C）類型的信息。帶通時域模式，只有脈沖激勵，沒有頻率限制，并給出頻率選擇設備的時域響應，比如SAW濾波器或天線。選通功能可以用來選擇性隔離一個信號響應，并觀察一個沒有自身線路干擾的部件的單個部分的頻域響應。 HP 8753C一般技術指標信號源頻率特性范圍：300kHz ~ 3GHz分辨率：1Hz準確度（25℃）：±10ppm輸出特性功率范圍：-5 ~ +20dBm電平（50MHz，+10dBm）：±0.5dB電平線性：-5~0dBm：±0.5dB；0~15dBm：±0.2dB+15~+20dBm：±0.5dB阻：50Ω諧波：≤-25dBc（20dBm輸出電平）≤-50dBc（0dBm輸出電平）非諧波與混頻器有關的非諧波寄生信號：≤-32dBc（20dBm輸出電平）≤-55dBc（0dBm輸出電平）其它寄生信號：f<135MHz：-60dBcf≥135MHz：-60dBc+20*log（f/135MHz）dBc相位噪聲（1Hz帶寬，10kHz偏置）：f<135MHz：-90dBcf≥135MHz：90dBc+20*log（f/135MHz）dBc 接收機頻率范圍：300kHz~6GHz輸入：A，B 100dB動態范圍<3GHz，95dB動態范圍3~6GHz靈敏度（噪聲電平）：3kHz帶寬：-90dBm<3GHz；-85dBm 3~6GHz10Hz帶寬：-100dBm<3GHz，-95dBm 3~6GHz輸入電平：0dBm阻：50Ω輸入交叉干擾：300kHz~1GHz：-100dB1GHz~3GHz：-90dB3GHz~4.5GHz：-85dB4.5GHz~6GHz：-75dB動態：±0.05dB，±0.3o 群延遲特性范圍：1/（2×小孔徑）孔徑：可選擇的：頻率間隔的20%小：（頻率間隔）/（點數-1）分辨率：27.8/孔徑（Hz）典型值0.01ns：相位/360×孔徑（Hz）射頻連接器：50ΩN型（陰） 結構特性尺寸：178mm（高）×425mm（寬）×498mm（長）重量：凈重22公斤 S參數測試裝置這個S參數測試裝置提供用連接便能測量二端口器件在任何一個方向上的反射和傳輸特性（包括S參數）的功能。測試裝置由分析儀控制，并包括程控步進衰減器。 HP85046A/B S參數測試裝置HP85046A/B測試裝置能同時分別測量50Ω和75Ω器件的傳輸和反射特性。