泰克TEK的371B曲線追蹤器Tektronix 371A晶體管測試儀

Tektronix泰克371B晶體管圖示儀/測試儀/ 371B曲線追蹤器

泰克 371B 高功率曲線跟蹤儀/晶體測試儀的特點包括：

1）半導(dǎo)體器件的高精度測量

2）高壓和電流源（高達(dá) 3,000 V 或 400 A）

3）內(nèi)置光標(biāo)測量 - 點、窗口和功能線

4）波形比較和平均開爾文檢測測量

5）完全可編程

6）1.44 MB 軟盤驅(qū)動器存儲設(shè)置和曲線位圖

7）使用第三方打印機直接打印硬拷貝

8）Tek 371B 曲線跟蹤器的替代品：Tektronix 371A。

泰克 371B 曲線跟蹤儀用于測試各種功率半導(dǎo)體。371B 是高功率曲線跟蹤器的行業(yè)領(lǐng)導(dǎo)者，可對各種功率半導(dǎo)體執(zhí)行直流參數(shù)表征，包括晶閘管、SCR、IGBT 和功率 MOSFET。高壓集電極模式允許測試高達(dá) 3,000 伏的器件的關(guān)閉特性。脈沖高電流集電極模式提供大于 400 安培峰值的輸出電流脈沖，用于測試導(dǎo)通特性。它還允許進(jìn)行高達(dá) 3,000 瓦的高功率測試。

Tektronix 371B 測量的交互式控制是從全功能前面板或通過 GPIB 完成的。每個操作參數(shù)都可以使用 GPIB 控制器進(jìn)行控制。Tektronix.com 網(wǎng)站上提供了 Tektronix 371B 系列 LabView 驅(qū)動程序。這些驅(qū)動程序具有許多構(gòu)建塊來創(chuàng)建自定義測量解決方案。

最多 80 條數(shù)字化特性曲線可以存儲在軟盤或內(nèi)部非易失性存儲器中，只需按一下按鈕即可調(diào)用。然后可以將實時曲線與先前存儲的曲線進(jìn)行比較，以評估溫度漂移或操作參數(shù)的其他變化。為幫助識別數(shù)據(jù)，最多可使用 24 個字符的文本來標(biāo)記或注釋曲線數(shù)據(jù)?？梢允褂枚喾N存儲方法調(diào)整、存儲和調(diào)用操作參數(shù)，包括系統(tǒng)內(nèi)存、內(nèi)置 1.44 MB 軟盤驅(qū)動器，或通過 GPIB 控制器發(fā)送到外部。

Tektronix 371B 提供三種光標(biāo)測量模式。點光標(biāo)提供任何點的電壓、電流、gm 或 DC beta 的直接屏幕讀數(shù)。窗口光標(biāo)可以定位在兩條曲線之間以測量小信號 beta 或 gm，也可以用于視覺通過/不通過測試。功能線光標(biāo)提供斜率或截距值的屏幕讀數(shù)。

測試夾具是一種標(biāo)準(zhǔn)附件，可提供安全的設(shè)備外殼，以確保在測量期間保護(hù)操作員。測試夾具可容納帶開爾文感應(yīng)功能的標(biāo)準(zhǔn)適配器。

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