上海平板探測器探測器是一種X線直接轉換技術，它利用硒作為X線檢測器，成像環節少；CR是一種X線間接轉換技術，它利用影像板作為X線檢測器，成像環節相對DR較多。DR和CR將穿透被照射物體后的X線信息轉化為數字信息，灰階由膠片的256級至2048級、能在計算機中處理、因而可通過軟件和功能實現圖像的優化、圖像質量大大。DR的技術是它的平板（FP）、采用一個帶有碘化銫閃爍器的單片非結晶硅面板。將吸收的X光信號轉換成可見光信號、再通過低噪聲光電二管陣列吸收可見光。并轉換為電信號、然后通過低噪聲讀出電路將每個像素的數字化信號傳送到圖像處理器，由計算機將其集成為X線影像，以DOE為評價參數。DR是的。因而其圖像層次豐富、影像邊緣銳利清晰，細微結構表現出色。CR則將信息先記錄在涂有氟化鋇的IP板上。再通過掃描裝置實現數字化轉換，其曝光條件仍由所匹配的X線成像設備所限制。因而圖像與DR相比略遜。CR的圖像對比度和噪聲的表現也不錯。這可能與其攝影時使用較高的mAs有關。圖像質量的了診斷醫師的滿意度，大大減少了的漏診和誤診。同時用在工業檢測成像上效果加清晰。
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